[发明专利]产品可靠性加速系数评估方法、装置和计算机设备有效

专利信息
申请号: 202210187886.X 申请日: 2022-02-28
公开(公告)号: CN114239326B 公开(公告)日: 2022-08-02
发明(设计)人: 潘广泽;李丹;陈勃琛;王春辉;王远航;刘文威;丁小健;董成举 申请(专利权)人: 中国电子产品可靠性与环境试验研究所((工业和信息化部电子第五研究所)(中国赛宝实验室))
主分类号: G06F30/20 分类号: G06F30/20;G06F111/08;G06F119/14;G06F119/02
代理公司: 华进联合专利商标代理有限公司 44224 代理人: 黄晓庆
地址: 511300 广东省*** 国省代码: 广东;44
权利要求书: 查看更多 说明书: 查看更多
摘要:
搜索关键词: 产品 可靠性 加速 系数 评估 方法 装置 计算机 设备
【说明书】:

本申请涉及一种产品可靠性加速系数评估方法、装置、计算机设备和存储介质。所述方法包括:获取产品的器件结构信息;基于所述器件结构信息,确定所述产品的可靠性评估模型;获取产品的各器件分别在常规使用条件下的常规失效率和在加速使用条件下的加速失效率;基于所述可靠性评估模型和各所述器件的常规失效率,确定所述产品的常规平均故障间隔时间,以及基于所述可靠性评估模型和各所述器件的加速失效率,确定所述产品的加速平均故障间隔时间;根据所述常规平均故障间隔时间和所述加速平均故障间隔时间,确定所述产品的可靠性加速系数。采用本方法能够提高产品的可靠性加速系数的评估精度。

技术领域

本申请涉及可靠性技术领域,特别是涉及一种产品可靠性加速系数评估方法、装置、计算机设备、存储介质和计算机程序产品。

背景技术

随着可靠性技术的发展,市场竞争的日益激烈以及用户对产品质量和可靠性越来越高的要求,传统技术中根据故障统计的可靠性试验已经不能满足产品研制与生产过程中可靠性评估的需求。

为了快速评价产品的寿命和与可靠性,需要开展产品的可靠性加速试验。而可靠性加速试验中最核心和关键的问题是可靠性加速系数的评估,目前,通过分析产品各个器件的失效率,结合器件可靠性试验或历史故障数据,获得产品的可靠性加速系数。传统方式一方面需要开展器件可靠性试验,另一方面在进行数据处理时均采用无冗余评估模型,最终导致评估结果误差较大。

发明内容

基于此,有必要针对上述技术问题,提供一种能够提高可靠性加速系数评估精度的产品可靠性加速系数评估方法、装置、计算机设备、计算机可读存储介质和计算机程序产品。

第一方面,本申请提供了一种产品可靠性加速系数评估方法,所述方法包括:

获取产品的器件结构信息;

基于所述器件结构信息,确定所述产品的可靠性评估模型;

获取所述产品的各器件分别在常规使用条件下的常规失效率和在加速使用条件下的加速失效率;

基于所述可靠性评估模型和各所述器件的常规失效率,确定所述产品的常规平均故障间隔时间,以及基于所述可靠性评估模型和各所述器件的加速失效率,确定所述产品的加速平均故障间隔时间;

根据所述常规平均故障间隔时间和所述加速平均故障间隔时间,确定所述产品的可靠性加速系数。

在其中一个实施例中,所述产品的可靠性评估模型包括无冗余评估模型、有冗余评估模型、桥接评估模型和混合评估模型中的任意一种;所述基于所述器件结构信息,确定所述产品的可靠性评估模型,包括:若所述器件结构信息为第一结构信息,确定所述产品的可靠性评估模型为无冗余评估模型,所述第一结构信息为任意一个器件发生故障后所述产品会发生故障的器件结构;若所述器件结构信息为第二结构信息,确定所述产品的可靠性评估模型为有冗余评估模型,所述第二结构信息为所有器件发生故障后所述产品会发生故障的器件结构;若所述器件结构信息为第三结构信息,确定所述产品的可靠性评估模型为桥接评估模型,所述第三结构信息为发生故障的器件个数达到预设个数后所述产品会发生故障的器件结构;若所述器件结构信息为所述第一结构信息、所述第二结构信息以及所述第三结构信息中任意两种及以上的组合,确定所述产品的可靠性评估模型为混合评估模型。

在其中一个实施例中,所述获取所述产品的各器件分别在常规使用条件下的常规失效率,包括:基于可靠性预计手册,确定各所述器件对应的基本失效率、环境系数、质量系数以及种类系数;基于各所述器件对应的所述基本失效率、所述环境系数、所述质量系数以及所述种类系数的乘积,确定各所述器件分别在常规使用条件下的常规失效率。

在其中一个实施例中,所述获取所述产品的各器件分别在加速使用条件下的加速失效率,包括:获取所述产品在应力条件下的可靠性加速模型;

下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。

该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于中国电子产品可靠性与环境试验研究所((工业和信息化部电子第五研究所)(中国赛宝实验室)),未经中国电子产品可靠性与环境试验研究所((工业和信息化部电子第五研究所)(中国赛宝实验室))许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服

本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/202210187886.X/2.html,转载请声明来源钻瓜专利网。

×

专利文献下载

说明:

1、专利原文基于中国国家知识产权局专利说明书;

2、支持发明专利 、实用新型专利、外观设计专利(升级中);

3、专利数据每周两次同步更新,支持Adobe PDF格式;

4、内容包括专利技术的结构示意图流程工艺图技术构造图

5、已全新升级为极速版,下载速度显著提升!欢迎使用!

请您登陆后,进行下载,点击【登陆】 【注册】

关于我们 寻求报道 投稿须知 广告合作 版权声明 网站地图 友情链接 企业标识 联系我们

钻瓜专利网在线咨询

周一至周五 9:00-18:00

咨询在线客服咨询在线客服
tel code back_top