[发明专利]一种扬声器的模型参数校准方法、装置、芯片及模组设备

说明书

本申请公开了一种扬声器的模型参数校准方法、装置、芯片及模组设备，该方法包括：获取扬声器的第一模型参数；获取扬声器对应的测量信息，该测量信息包括阻抗测量信息、电动势能测量信息或磁场测量信息中的一种或多种；基于该阻抗测量信息校准第一模型参数，得到扬声器对应的第二模型参数。通过这样的方法，可以提升扬声器模型参数的准确度。

技术领域

本发明涉及计算机领域，尤其涉及一种扬声器的模型参数校准方法、装置、芯片及模组设备。

背景技术

无论是为了防止扬声器系统失效(例如烧毁、使用寿命缩短或性能突变等)而对扬声器进行的控制(包括对振膜位移的控制、对温度的控制等)，还是为了发挥扬声器的性能(例如实现更好的音质等)而对扬声器进行的控制(包括对扬声器各频段信号的增益控制等)，均是基于扬声器的模型参数进行的智能控制。其中，扬声器的模型参数是根据该扬声器的工作原理进行物理建模后，基于该等效的物理模型计算得到的。通常同一批次生产的扬声器由于工作原理相同，其扬声器的模型参数也相同。

但在实际生产过程中，同一批量产的扬声器之间也会存在个体性能差异，若对每个扬声器均采用相同的模型参数进行智能控制，将降低对扬声器的控制效果。可见，如何提升每个扬声器模型参数的准确度，进而提升后续对扬声器控制的准确性是一个亟待解决的问题。

发明内容

本申请提供一种扬声器的模型参数校准方法、装置、芯片及模组设备，可以提升终端设备的扬声器模型参数的准确度。

第一方面，本申请提供一种扬声器的模型参数校准方法，该方法包括：获取扬声器的第一模型参数；获取扬声器对应的测量信息，该测量信息包括阻抗测量信息、电动势能测量信息或磁场测量信息中的一种或多种；基于该测量信息校准第一模型参数，得到扬声器对应的第二模型参数。

基于第一方面所提供的扬声器的模型参数校准方法，终端设备的扬声器模型参数可以根据实测的测量信息进行校正，从而提升扬声器模型参数的准确度。

在一个可能的实施方式中，该测量信息包阻抗测量信息，该阻抗测量信息包含扬声器在至少一个频点下的阻抗测量值；

在一个可能的实施方式中，基于第一模型参数，确定阻抗计算信息，该阻抗计算信息包含扬声器在至少一个频点下的阻抗计算值；基于阻抗计算信息和阻抗测量信息，校准第一模型参数得到第二模型参数。

在一个可能的实施方式中，基于阻抗计算信息和阻抗测量信息，确定偏差向量；该偏差向量中的元素和每个频点下阻抗计算值与阻抗测量值之间的差值相关联；基于该偏差向量，校准第一模型参数得到第二模型参数。

在一个可能的实施方式中，向扬声器发送激励信号；并基于该激励信号，测量扬声器对应的测量信息。

在一个可能的实施方式中，接收来自其他设备的扬声器对应的测量信息。

在一个可能的实施方式中，接收模型参数校准请求，该模型参数校准请求用于对第一模型参数进行校准。

第二方面，本申请提供了一种扬声器的模型参数校准装置，该装置包括：获取单元，用于获取扬声器的第一模型参数；获取单元，还用于获取扬声器对应的测量信息，测量信息包括阻抗测量信息、电动势能测量信息或磁场测量信息中的一种或多种；校准单元，用于基于测量信息校准第一模型参数，得到扬声器对应的第二模型参数。

在一个可能的实施方式中，测量信息包含阻抗测量信息，该阻抗测量信息包含扬声器在至少一个频点下的阻抗测量值。

在一个可能的实施方式中，该装置还包括确定单元，该确定单元用于基于第一模型参数，确定阻抗计算信息，该阻抗计算信息包含扬声器在至少一个频点下的阻抗计算值；校准单元，还用于基于阻抗计算信息和阻抗测量信息，校准第一模型参数得到第二模型参数。