[发明专利]一种在棋盘格测试图上进行SFR测试的方法、装置及可读存储介质在审

专利信息
申请号: 202210166110.X 申请日: 2022-02-23
公开(公告)号: CN114567771A 公开(公告)日: 2022-05-31
发明(设计)人: 林挺 申请(专利权)人: 信利光电股份有限公司
主分类号: H04N17/00 分类号: H04N17/00
代理公司: 广州粤高专利商标代理有限公司 44102 代理人: 温德昌
地址: 516600 广东省汕尾*** 国省代码: 广东;44
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摘要:
搜索关键词: 一种 棋盘 测试 进行 sfr 方法 装置 可读 存储 介质
【权利要求书】:

1.一种在棋盘格测试图上进行SFR测试的方法,其特征在于,包括如下步骤:

步骤1:在棋盘格测试图中设置至少一个搜索框,每个搜索框内包含有至少一个棋盘方格;

步骤2:在每个搜索框内生成多个SFR测试区域,每个SFR测试区域分别仅包含相对应搜索框内所述棋盘方格上各不相同的一条直边,且每个SFR测试区域内所包含的直边与相对应搜索框内预定点的第一距离小于第一预定距离;

步骤3:根据每个SFR测试区域内所包含的直边,计算出每个SFR测试区域的第一SFR值;

步骤4:根据每个SFR测试区域与相对应的搜索框内预定点的第二距离,对每个SFR测试区域的第一SFR值进行赋权,计算出每个搜索框的第二SFR值。

2.根据权利要求1所述的在棋盘格测试图上进行SFR测试的方法,其特征在于,在步骤1中,所述搜索框的数量有多个,分布于所述棋盘格测试图中的各个中心圆周上。

3.根据权利要求1所述的在棋盘格测试图上进行SFR测试的方法,其特征在于,在步骤2中,在每个搜索框内生成多个SFR测试区域的步骤如下:

步骤2.1:确定每个搜索框内的所有直边;

步骤2.2:计算出每条直边与相对应搜索框内预定点的第一距离;

步骤2.3:将每条直边的第一距离与所述第一预定距离进行比较,筛选出所述第一距离小于所述第一预定距离的多条直边;

步骤2.4:为筛选出的每条直边生成相对应的SFR测试区域。

4.根据权利要求3所述的在棋盘格测试图上进行SFR测试的方法,其特征在于,在步骤2.1中,确定每个搜索框内的所有直边的步骤如下:

步骤2.1.1:确定每个搜索框内的所有角点;

步骤2.1.2:计算出每个角点与其他角点之间连线的图像长度;

步骤2.1.3:将各条连线的图像长度与预定边长进行比较,将所述图像长度等于所述预定边长或者在所述预定边长的误差范围内的多条连线确定为所述直边。

5.根据权利要求3所述的在棋盘格测试图上进行SFR测试的方法,其特征在于,在步骤2.1中,确定每个搜索框内的所有直边的步骤如下:

步骤2.1.1:确定每个搜索框内的所有角点;

步骤2.1.2:计算出每个角点与其他角点之间连线的图像长度;

步骤2.1.3:将各条连线的图像长度进行比较,将所述图像长度最小的多条连线确定为所述直边。

6.根据权利要求1-5中任一所述的在棋盘格测试图上进行SFR测试的方法,其特征在于,所述第一预定距离为所述棋盘方格的直边的两倍边长。

7.根据权利要求1-5中任一所述的在棋盘格测试图上进行SFR测试的方法,其特征在于,各个搜索框内的预定点均为各个搜索框的中心点。

8.根据权利要求1所述的在棋盘格测试图上进行SFR测试的方法,其特征在于,所述棋盘方格的直边包括横向直边和纵向直边,所述SFR测试区域包括与所述横向直边相对应的横向SFR测试区域,以及与所述纵向直边相对应的纵向SFR测试区域;每个搜索框的第二SFR值包括与所述横向SFR测试区域相对应的第二横向SFR值,以及与所述纵向SFR测试区域相对应的第二纵向SFR值,所述第二横向SFR值和第二纵向SFR值满足以下公式:

其中,hi和ri分别为n个横向SFR测试区域中第i个横向SFR测试区域的第一SFR值和第二距离,vi和Ri分别为m个横向SFR测试区域中第i个横向SFR测试区域的第一SFR值和第二距离,n、m≥2。

9.一种在棋盘格测试图上进行SFR测试的装置,包括处理器以及与所述处理器连接的存储器,所述存储器内储存有供所述处理器执行的计算机程序;其特征在于,所述处理器执行该计算机程序时,进行权利要求1-8中任一所述的在棋盘格测试图上进行SFR测试的方法。

10.一种可读存储介质,其储存有供处理器执行的计算机程序;其特征在于,所述处理器执行该计算机程序时,进行权利要求1-8中任一所述的在棋盘格测试图上进行SFR测试的方法。

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