[发明专利]基于稀疏退化建模的设备性能退化评估方法及系统在审

专利信息
申请号: 202210163975.0 申请日: 2022-02-22
公开(公告)号: CN114528707A 公开(公告)日: 2022-05-24
发明(设计)人: 严彤彤;王冬;彭志科 申请(专利权)人: 上海交通大学
主分类号: G06F30/20 分类号: G06F30/20;G06F17/14;G06F17/15;G06F17/16;G06F111/04;G06F119/04
代理公司: 上海汉声知识产权代理有限公司 31236 代理人: 胡晶
地址: 200240 *** 国省代码: 上海;31
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摘要:
搜索关键词: 基于 稀疏 退化 建模 设备 性能 评估 方法 系统
【权利要求书】:

1.一种基于稀疏退化建模的设备性能退化评估方法,其特征在于,所述方法包括如下步骤:

步骤S1:以固定的时间间隔采集振动信号的方式,收集设备全寿命周期的时域振动数据矩阵X∈RN×M,表示如下:

其中,N表示设备全寿命周期过程中采样次数;M表示每次采样的样本数;xj,·∈R1×M表示第j次从设备采集到的振动样本序列,j=1,2…,N;xj,k表示第j次采样中的第k个样本点,k=1,2,…,M;

步骤S2:基于希尔伯特变换和快速傅里叶变换将N次振动数据序列转化为平方包络谱幅值SES∈RN×M,表示如下:

其中,sesj,k表示第j次采样中的第k个样本点所对应的平方包络谱幅值,由xj,k基于希尔伯特变换和快速傅里叶变换得到;

步骤S3:基于平方包络谱幅值融合的全寿命周期健康指数HI∈RN×1定义如下:

其中,hij(j=1,2…,N)为第j次采样时间点的健康指数;w∈RM×1=[w1,w2,…,wM]′为平方包络谱幅值的权重;wk(k=1,2,…,M)为每次采样中的第k个平方包络谱幅值的权重;

步骤S4:基于全寿命周期振动数据的平方包络谱幅值矩阵SES,构建一种稀疏退化凸优化模型自动确定平方包络谱幅值的权重w;

步骤S5:根据步骤S4构建的稀疏退化凸优化模型求解平方包络谱幅值的权重w;

步骤S6:根据步骤S3的全寿命周期健康指数定义计算HI,对设备全寿命周期进行早期故障检测和单调退化评估。

2.根据权利要求1所述的基于稀疏退化建模的设备性能退化评估方法,其特征在于,所述步骤S1中的设备全寿命周期实验过程中共采集N次,每次采集M个振动数据序列,设备的全寿命周期振动数据矩阵X∈RN×M表示如下:

其中,N表示设备全寿命周期过程中采样次数;M表示每次采样的样本数;xj,·∈R1×M表示第j次从设备采集到的振动样本序列,j=1,2…,N;xj,k表示第j次采样中的第k个样本点,k=1,2,…,M。

3.根据权利要求1所述的基于稀疏退化建模的设备性能退化评估方法,其特征在于,所述步骤S2包括如下步骤:

步骤S2.1:首先利用希尔伯特变换运算,将N次的振动数据序列转化为解析信号矩阵E∈RN×M表示如下:

其中,|·|表示复数取模符号;X∈RN×M表示设备全寿命周期的时域振动数据矩阵;xj,·∈R1×M(j=1,2…,N)表示第j次从设备采集到的振动样本序列;ej,k表示第j次采样中的第k个样本点所对应的解析信号;hilbert(·)表示希尔伯特变换运算,具体运算公式如下:

由上式可知,希尔伯特变换运算的本质是将原始信号x(t)与1/πt之间进行卷积;

步骤S2.2:计算设备的全寿命周期振动数据的解析信号E的平方包络幅值矩阵SE∈RN×M如下:

其中,sej,k表示第j次采样中的第k个样本点所对应的平方包络幅值,由ej,k取幅值平方得到;

步骤S2.3:基于快速傅里叶变换,计算设备的全寿命周期振动数据的平方包络谱幅值矩阵SES∈RN×M如下:

其中,sesj,k表示第j次采样中的第k个样本点所对应的平方包络谱幅值,由sej,k开展快速傅里叶变换得到。

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