[发明专利]一种ATE测试通道的自诊断方法在审
| 申请号： | 202210157357.5 | 申请日： | 2022-02-21 |
| 公开（公告）号： | CN114527422A | 公开（公告）日： | 2022-05-24 |
| 发明（设计）人： | 何冬晓 | 申请（专利权）人： | 上海御渡半导体科技有限公司 |
| 主分类号： | G01R35/02 | 分类号： | G01R35/02 |
| 代理公司： | 上海天辰知识产权代理事务所(特殊普通合伙) 31275 | 代理人： | 徐琳;吴世华 |
| 地址： | 201306 上海市浦东*** | 国省代码： | 上海;31 |
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| 摘要： | |||
| 搜索关键词： | 一种 ate 测试 通道 诊断 方法 | ||
1.一种ATE测试通道的自诊断方法，其特征在于，包括如下步骤：
S01：将测试通道排序后分为奇数测试通道和偶数测试通道，配置奇数测试通道和偶数测试通道的输入高电平电压VIH、输入低电平电压VIL、输出高电平电压VOH和输出低电平电压VOL不同；
S02：奇数测试通道和偶数测试通道的发送端同时发送相同的数据信号，且各个测试通道的接收端接收其发送端所发送的数据信号，根据接收的数据信号判断对应测试通道是否正常。
2.根据权利要求1所述的一种ATE测试通道的自诊断方法，其特征在于，所有奇数测试通道的输入高电平电压VIH、输入低电平电压VIL、输出高电平电压VOH和输出低电平电压VOL对应相等；所有偶数测试通道的输入高电平电压VIH、输入低电平电压VIL、输出高电平电压VOH和输出低电平电压VOL对应相等。
3.根据权利要求1所述的一种ATE测试通道的自诊断方法，其特征在于，步骤S02中若奇数测试通道和偶数测试通道接收的数据信号等于发射的数据信号，则奇数测试通道和偶数测试通道正常。
4.根据权利要求1所述的一种ATE测试通道的自诊断方法，其特征在于，所述奇数测试通道的输入高电平电压VIH、输入低电平电压VIL、输出高电平电压VOH和输出低电平电压VOL对应大于偶数测试通道的输入高电平电压VIH、输入低电平电压VIL、输出高电平电压VOH和输出低电平电压VOL。
5.根据权利要求4所述的一种ATE测试通道的自诊断方法，其特征在于，若相邻的奇数测试通道和/或偶数测试通道接收的数据信号为0，则对应的奇数测试通道和/或偶数测试通道对地短路。
6.根据权利要求4所述的一种ATE测试通道的自诊断方法，其特征在于，若偶数测试通道接收的数据信号高于其发送的数据信号，则相邻的奇数测试通道和偶数测试通道短接。
7.根据权利要求4所述的一种ATE测试通道的自诊断方法，其特征在于，所述奇数测试通道的输入高电平电压VIH为3.5V，输入低电平电压VIL为2.5V、输出高电平电压VOH为2V，输出低电平电压VOL为3V；所述偶数测试通道的输入高电平电压VIH为1.5V、输入低电平电压VIL为0V、输出高电平电压VOH为1V，输出低电平电压VOL为0.5V。
8.根据权利要求1所述的一种ATE测试通道的自诊断方法，其特征在于，所述相邻的奇数测试通道的输入高电平电压VIH、输入低电平电压VIL、输出高电平电压VOH和输出低电平电压VOL对应大于偶数测试通道的输入高电平电压VIH、输入低电平电压VIL、输出高电平电压VOH和输出低电平电压VOL。
9.根据权利要求8所述的一种ATE测试通道的自诊断方法，其特征在于，若奇数测试通道和/或偶数测试通道接收的数据信号为0，则对应的奇数测试通道和/或偶数测试通道对地短路。
10.根据权利要求8所述的一种ATE测试通道的自诊断方法，其特征在于，若奇数测试通道接收的数据信号高于发送的数据信号，则相邻的奇数测试通道和偶数测试通道短接。
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