[发明专利]智能选频微波水分测量仪

说明书

本发明公开了一种智能选频微波水分测量仪，包括测量设备与智能测量分析系统，所述测量设备包括控制柜、两个竖直支架，两个所述竖直支架的相对侧壁支架固定连接有下水平支架与上水平支架，所述下水平支架与上水平支架上分别安装有微波发射探头与微波接收探头；所述智能测量分析系统包括设置在控制柜内的RAM微处理器微型工业电脑。本发明通过基于相位差和阻尼衰减两者计算出来一个计算量，并引进人工智能算法和大数据分析，对水分含量的变化有明显的响应，故不需进行高度补偿、密度补偿以及温度补偿就能实现精确测量，因此无需配备额外的补偿用的温度传感器或者高度传感器。

技术领域

本发明涉及微波水分测量技术领域，尤其涉及智能选频微波水分测量仪。

背景技术

由于水分子具有较强的极性，当微波也就是电磁波透射介质时，其部分电磁能会被水分子吸收，而被吸收后的电磁波会产生相位差和振幅衰减。这也是传统微波测量水分仪的原理。

但是利用电磁波的相位差测量水分含量时，往往受到自身频率的限制，而使用阻尼衰减测量又会受到温度影响。因此以上两者传统测量方式都受到物料密度变化的影响，物料颗粒，形状变化的影响，后期必须通过各种补偿用的传感器进行各种形式的补偿，不仅设备复杂，也导致设备成本高昂，随之而来的维护及检修工作也十分冗杂。鉴于此，本申请文件提出一种智能选频微波水分测量仪。

发明内容

本发明的目的是为了解决现有技术中存在的缺点，而提出的智能选频微波水分测量仪。

为了实现上述目的，本发明采用了如下技术方案：

智能选频微波水分测量仪，包括测量设备与智能测量分析系统，所述测量设备包括控制柜、两个竖直支架，两个所述竖直支架的相对侧壁支架固定连接有下水平支架与上水平支架，所述下水平支架与上水平支架上分别安装有微波发射探头与微波接收探头；

所述智能测量分析系统包括设置在控制柜内的RAM微处理器微型工业电脑，且所述微波发射探头与微波接收探头与RAM微处理器微型工业电脑连接，所述RAM微处理器微型工业电脑连接有频率发生器控制系统，所述频率发生器控制系统用于控制微波发射频率，所述RAM微处理器微型工业电脑连接有监控系统与校准系统，且所述监控系统用于对实时监测被测物质截面水分的分布情况，所述校准系统用于提供逼近算法，且每种算法可自由更换和调整。

优选地，所述上水平支架的侧壁开设有气槽，所述气槽内密封滑动连接有推塞，且所述推塞通过导电弹簧连接在气槽内壁上，所述上水平支架上设有与气槽相通的进气管与出气管，且所述进气管与出气管内均设有单向阀。

优选地，所述上水平支架上嵌设有两组电感线圈，所述上水平支架下端转动连接有摆动板，所述摆动板的侧壁上嵌设有铁条，且两个所述电感线圈沿摆动板对称分布。

优选地，所述频率发生器控制系统连接有频谱算法控制系统，所述监控系统与校准系统则连接有软件算法控制系统。

优选地，所述软件算法控制系统连接有大数据分析系统与AI系统，所述大数据分析系统用于通过大数据分析系统自动补偿或消减外界因素的干扰和影响，所述AI系统用于通过离散神经网算法进行自我学习。

优选地，所述RAM微处理器微型工业电脑通过超声波测距传感探头与微波发射探头及微波接收探头连接，且超声波测距传感探头用于判断智能测量分析系统启动、停止测量。

本发明具有以下有益效果：

1、通过基于相位差和阻尼衰减两者计算出来一个计算量，该计算量能够在一定程度上减缓外界干扰的影响，此外引进人工智能算法和大数据分析。这两者能够通过分析大量数据自动选择最优的测量频段和补偿频段对外界影响进行补偿，对水分含量的变化有明显的响应，故不需进行高度补偿、密度补偿以及温度补偿就能实现精确测量，因此无需配备额外的补偿用的温度传感器或者高度传感器。为客户节约了各种成本。