[发明专利]低压差稳压器的过电流检测电路及低压差稳压系统

权利要求书

1.一种低压差稳压器的过电流检测电路，其特征在于，包括第一电荷储存电路、第一控制逻辑电路、第一充放电路径提供单元、第二电荷储存电路、第二控制逻辑电路和计数电路；

所述第一电荷储存电路，用于被参考电流进行充电，所述第一电荷储存电路的第一电压由第一初始电压充电至第一特定电压共需要第一特定时间；

所述第一控制逻辑电路，电连接所述第一电荷储存电路，用于根据所述第一电压与过电流检测信号产生第一充放电路径控制信号；

所述第一充放电路径提供单元，电连接所述第一控制逻辑电路，用于接收所述第一充放电路径控制信号与第二充放电路径控制信号与传感电流，其中所述传感电流是由低压降稳压器的输出电流产生；

所述第二电荷储存电路，电连接所述第一充放电路径提供单元，其中所述第一充放电路径提供单元受控于所述第一充放电路径控制信号与所述第二充放电路径控制信号，以决定是否提供充电路径给所述传感电流对所述第二电荷储存电路进行充电，且所述第二电荷储存电路的第二电压由第二初始电压充电至第二特定电压共需要第二特定时间，其中所述第二特定时间小于所述第一特定时间；

所述第二控制逻辑电路，电连接所述第二电荷储存电路与所述第一充放电路径提供单元，根据所述第二电压产生所述第二充放电路径控制信号；以及

所述计数电路，电连接所述第二电荷储存电路与所述第一控制逻辑电路，根据所述第二电压进行计数，且于计数至特定数值时，输出所述过电流检测信号。

2.根据权利要求1所述的低压差稳压器的过电流检测电路，其特征在于，所述输出电流为过电流的情况下，于所述第一电压充电至所述第一特定电压前，所述计数电路先计数到所述特定数值；以及在所述输出电流非为所述过电流的情况下，于所述计数电路计数到所述特定数值前，所述第一电压先被充电至所述第一特定电压。

3.根据权利要求1所述的低压差稳压器的过电流检测电路，其特征在于，所述第二控制逻辑电路更电连接所述第一控制逻辑电路，且所述第二控制逻辑电路根据所述第二电压与所述第一充放电路径控制信号产生所述第二充放电路径控制信号。

4.根据权利要求3所述的低压差稳压器的过电流检测电路，其特征在于，更包括第二充放电路径提供单元；

所述第二充放电路径提供单元，电连接所述第一电荷储存电路与所述第一控制逻辑电路，受控于过电流检测禁能信号与时间到达信号，以决定是否提供另一充电路径给所述参考电流对所述第一电荷储存电路进行充电，其中所述过电流检测禁能信号用于禁能所述低压差稳压器的过电流检测电路，以及所述时间到达信号用以表示所述第一电压充电至所述第一特定电压。

5.根据权利要求4所述的低压差稳压器的过电流检测电路，其特征在于，更包括第一脉冲整形电路和第二脉冲整形电路；

所述第一脉冲整形电路，电连接于所述第二充放电路径提供单元与所述第一控制逻辑电路之间；以及

所述第二脉冲整形电路，电连接于所述第二电荷储存电路与所述计数电路之间；

其中，所述第一脉冲整形电路包括第一缓冲器，以及所述第二脉冲整形电路包括第二缓冲器。

6.根据权利要求4所述的低压差稳压器的过电流检测电路，其特征在于，所述第二充放电路径提供单元包括第一或门、第一P型晶体管和第一N型晶体管；

所述第一或门，用于接收所述过电流检测禁能信号与所述时间到达信号，并产生第一逻辑运算信号；

所述第一P型晶体管的栅极电连接所述第一N型晶体管的栅极，并用于接收所述第一逻辑运算信号，所述第一P型晶体管的源极接收该参考电流，所述第一N型晶体管的源极连接所述第一电荷储存电路，以及所述第一P型晶体管的漏极电连接所述第一N型晶体管的漏极。

7.根据权利要求4所述的低压差稳压器的过电流检测电路，其特征在于，所述第一充放电路径提供单元包括第二P型晶体管和第二N型晶体管；

所述第二P型晶体管的源极接收所述传感电流，所述第二P型晶体管的栅极接收所述第一充放电路径控制信号，所述第二P型晶体管的漏极与所述第二N型晶体管的漏极电连接所述第二电荷储存电路，以及所述第二N型晶体管的栅极接收所述第二充放电路径控制信号。