[发明专利]一种γ辐射环境下成像设备的图像去噪方法

权利要求书

1.一种γ辐射环境下图像去噪方法，其特征在于，包括以下步骤：

S1、通过防辐射装置采集γ辐射环境下的图像序列；

所述防辐射装置包括：成像设备(1)、内保护层(2)、中间保护层(3)、外保护层(4)、耐辐照玻璃罩(5)和成像设备安装件(6)；

所述成像设备(1)与成像设备安装件(6)固定连接；所述内保护层(2)与成像设备安装件(6)固定连接；所述中间保护层(3)固定在内保护层(2)和外保护层(4)间；所述耐辐照玻璃罩(5)与内保护层(2)固定连接；

所述内保护层(2)包括：盖体台面(21)和管状保护层(22)；

所述管状保护层(22)一端闭合，一端开口；开口一端的管状保护层(22)的环形开口与盖体台面(21)固定连接，并延伸出部分，形成玻璃罩台面(23)；

在管状保护层(22)开口一端开凿出多条凹形条槽(24)；

所述成像设备安装件(6)的边缘设有多个凸起(61)，一个凸起(61)与一条凹形条槽(24)匹配；

所述耐辐照玻璃罩(5)嵌入盖体台面(21)中，与玻璃罩台面(23)抵靠；

所述外保护层(4)为管状，其一端封闭，一端开口，其开口一端与盖体台面(21)接触，并与盖体台面(21)固定连接；

所述中间保护层(3)为管状，其一端封闭，一端开口，中间保护层(3)固定在外保护层(4)和内保护层(2)之间；

所述内保护层(2)和外保护层(4)的材料为不锈钢，所述中间保护层(3)的材料为铅；所述耐辐照玻璃罩(5)为含氧化铈的耐辐照玻璃；

所述防辐射装置还包括成像设备连接线(7)，所述成像设备连接线(7)包括：两根电源线(71)、四根数据传输线(72)、两根备用线(73)、加强筋(74)、金属包络线(75)、塑封层(76)和凯夫拉纤维层(77)；

所述金属包络线(75)包裹两根电源线(71)、四根数据传输线(72)、两根备用线(73)和加强筋(74)；所述塑封层(76)套于金属包络线(75)外；所述凯夫拉纤维层(77)套于塑封层(76)外；

所述成像设备(1)包括：CMOS图像传感器、ISP图像信号处理器、存储器和视频编码器；所述CMOS图像传感器表面覆盖耐辐照玻璃罩(5)，所述ISP图像信号处理器、存储器和视频编码器表面覆盖防辐射铅层；

S2、遍历图像序列上的每个像素点，得到噪声标记图；

S3、对噪声标记图中噪声点进行恢复，得到去噪图像；

所述步骤S3包括以下分步骤：

S31、取出噪声标记图中噪声像素点对应的时序像素序列；

S32、取时序像素序列中非噪声像素点的像素中值，作为对应噪声像素点的像素值，得到基于时序信息的图像；

S33、取噪声标记图中噪声像素点邻域内的非噪声像素序列，取非噪声像素序列中值作为对应噪声像素点的像素值，得到基于空间信息的图像；

S34、将基于时序信息的图像和基于空间信息的图像进行加权求和，得到去噪图像；

步骤S2中噪声标记图中噪声像素判断的公式为：

其中，N为噪声像素判断结果，当N为1时，像素点为噪声像素点，当N为0时，像素点为正常像素点，μ()为单位阶跃函数，α为比例系数，表征非噪声像素点占整个图像序列的比例，n为图像序列中像素的数量，T为噪声检测阈值，P_i为图像序列中第i个像素值，P_n为待判断像素值。