[发明专利]光检测装置和电子设备有效
申请号: | 202210059499.8 | 申请日: | 2017-12-28 |
公开(公告)号: | CN114567739B | 公开(公告)日: | 2023-10-24 |
发明(设计)人: | 川崎凌平 | 申请(专利权)人: | 索尼半导体解决方案公司 |
主分类号: | H04N25/772 | 分类号: | H04N25/772;A61B1/04;A61B1/05;A61B1/313 |
代理公司: | 北京信慧永光知识产权代理有限责任公司 11290 | 代理人: | 李晗;曹正建 |
地址: | 日本神*** | 国省代码: | 暂无信息 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 检测 装置 电子设备 | ||
1.一种光检测装置,其包括:
第一基板,其包括比较电路的第一部分和四个像素,其中所述比较电路的所述第一部分连接至所述四个像素;
第二基板,其层叠至所述第一基板,其中
所述第二基板包括所述比较电路的第二部分,且
所述比较电路的所述第二部分连接至所述比较电路的所述第一部分;和
AD转换器,其包括所述比较电路的所述第一部分和所述比较电路的所述第二部分,
其中所述AD转换器由所述四个像素共用,且
所述AD转换器还包括:
脉冲生成电路,所述脉冲生成电路被构造为:
把延迟信号反馈到所述比较电路,其中所述延迟信号表示所述比较电路的具有特定延迟的输出信号;并且
产生脉冲信号;和
锁存电路,所述锁存电路基于产生的所述脉冲信号来锁存数据码。
2.根据权利要求1所述的光检测装置,其中所述脉冲生成电路包括:
延迟元件,所述延迟元件被构造为将所述比较电路的所述输出信号延迟以产生所述延迟信号;和
算术元件,所述算术元件被构造为对所述输出信号和所述延迟信号进行算术运算以产生所述脉冲信号。
3.根据权利要求2所述的光检测装置,其中所述算术元件包括NOR电路。
4.根据权利要求2所述的光检测装置,其中所述算术元件包括NAND电路。
5.根据权利要求1所述的光检测装置,其中在所述脉冲生成电路中,门元件的逻辑阈值是能够被调节的。
6.根据权利要求5所述的光检测装置,其中在所述脉冲生成电路中,所述门元件的所述逻辑阈值能够基于晶体管的元件数量而被调节。
7.根据权利要求5所述的光检测装置,其中
在所述脉冲生成电路中,所述门元件的所述逻辑阈值能够基于晶体管的各个元件的阈值而被调节的,且
所述晶体管的各个元件能够被改变为高阈值和低阈值。
8.根据权利要求2所述的光检测装置,其中所述脉冲生成电路还包括选择电路,所述选择电路被构造为:
当把所述延迟信号反馈到所述比较电路并且对所述输出信号和所述延迟信号进行算术运算以产生所述脉冲信号时,选择第一路径;和
当把所述比较电路的所述输出信号按原样使用时,选择第二路径。
9.一种光检测装置,其包括:
第一基板,其包括比较电路的第一部分和多个像素,其中所述比较电路的所述第一部分连接至所述多个像素;
第二基板,其层叠至所述第一基板,其中
所述第二基板包括所述比较电路的第二部分,且
所述比较电路的所述第二部分连接至所述比较电路的所述第一部分;和
AD转换器,其包括所述比较电路的所述第一部分和所述比较电路的所述第二部分,
其中所述AD转换器由所述多个像素共用,且
所述AD转换器还包括:
脉冲生成电路,所述脉冲生成电路被构造为:
把延迟信号反馈到所述比较电路,其中所述延迟信号表示所述比较电路的具有特定延迟的输出信号;并且
产生脉冲信号;和
锁存电路,所述锁存电路基于产生的所述脉冲信号来锁存数据码。
10.根据权利要求9所述的光检测装置,其中所述脉冲生成电路包括:
延迟元件,所述延迟元件被构造为将所述比较电路的所述输出信号延迟以产生所述延迟信号;和
算术元件,所述算术元件被构造为对所述输出信号和所述延迟信号进行算术运算以产生所述脉冲信号。
11.根据权利要求10所述的光检测装置,其中所述算术元件包括NOR电路。
12.根据权利要求10所述的光检测装置,其中所述算术元件包括NAND电路。
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