[发明专利]天线检测方法及装置、电子设备、存储介质

权利要求书

1.一种天线检测方法，其特征在于，应用于电子设备，所述电子设备包括多个待选天线，所述方法包括：

分别在每个待选天线处于信号发射状态的情况下，通过与各个所述待选天线对应的检测天线，检测各个所述待选天线对应的信号强度，其中，目标待选天线对应的检测天线，包括所述多个待选天线中，除所述目标待选天线以外的其他待选天线，所述目标待选天线为所述多个待选天线中的任一待选天线；

根据各个所述待选天线对应的信号强度，从所述多个待选天线中确定出天线性能最高的待选天线，并将所述天线性能最高的待选天线配置为所述电子设备的收发天线。

2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述分别在每个待选天线处于信号发射状态的情况下，通过与各个所述待选天线对应的检测天线，检测各个所述待选天线对应的信号强度，包括：

在目标待选天线处于信号发射状态的情况下，将所述目标待选天线对应的多个检测天线设置为信号接收状态；

通过处于信号接收状态的各个所述目标待选天线对应的检测天线，分别检测所述目标待选天线对应的接收信号强度。

3.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，在所述在目标待选天线处于信号发射状态的情况下，将所述目标待选天线对应的多个检测天线设置为信号接收状态之前，所述方法还包括：

响应所述电子设备的天线检测指令，将目标待选天线设置为信号发射状态，以触发所述目标待选天线按照最大发射功率发射检测信号；

所述通过处于信号接收状态的各个所述目标待选天线对应的检测天线，分别检测所述目标待选天线对应的接收信号强度，包括：

通过处于信号接收状态的各个所述目标待选天线对应的检测天线，分别接收所述检测信号对应的接收信号，并根据所述接收信号确定所述目标待选天线对应的接收信号强度。

4.根据权利要求3所述的方法，其特征在于，所述响应所述电子设备的天线检测指令，将目标待选天线设置为信号发射状态，包括：

响应所述电子设备的天线检测指令，通过第一开关电路，导通所述目标待选天线与射频收发模块之间的连接通路，其中，所述射频收发模块用于控制所述目标待选天线进行信号收发。

5.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，所述在目标待选天线处于信号发射状态的情况下，将所述目标待选天线对应的多个检测天线设置为信号接收状态，包括：

在目标待选天线处于信号发射状态的情况下，通过各个第二开关电路，分别导通所述目标待选天线对应的多个检测天线与射频收发模块之间的连接通路，其中，所述射频收发模块用于控制各个所述目标待选天线对应的检测天线进行信号接收。

6.根据权利要求1至5任一项所述的方法，其特征在于，所述多个待选天线，包括主集天线以及分集天线，其中，所述主集天线包括外置主天线和内置主天线，所述分集天线包括外置分集天线和内置分集天线，所述根据各个所述待选天线对应的信号强度，从所述多个待选天线中确定出天线性能最高的待选天线，并将所述天线性能最高的待选天线配置为所述电子设备的收发天线，包括：

根据所述外置主天线对应的信号强度，以及所述内置主天线对应的信号强度，从所述外置主天线和所述内置主天线中确定出天线性能最高的目标主集天线；以及，

根据所述外置分集天线对应的信号强度，以及所述内置分集天线对应的信号强度，从所述外置分集天线和所述内置分集天线中确定出天线性能最高的目标分集天线；

将所述目标主集天线及所述目标分集天线配置为所述电子设备的收发天线。

7.根据权利要求1至5任一项所述的方法，其特征在于，所述根据各个所述待选天线对应的信号强度，从所述多个待选天线中确定出天线性能最高的待选天线，并将所述天线性能最高的待选天线配置为所述电子设备的收发天线，包括：

分别将各个所述待选天线对应的信号强度，与相应的校准数据进行比较，并根据比较结果确定出信号强度下降最小的待选天线，作为天线性能最高的待选天线，其中，所述校准数据包括各个所述待选天线对应的最大测量信号强度；

若所述电子设备当前配置的收发天线不为所述天线性能最高的待选天线，则将所述当前配置的收发天线切换为所述天线性能最高的待选天线。