[发明专利]基于黑体辐射光谱的标准传递红外探测器定标系统

权利要求书

1.一种基于黑体辐射光谱的标准传递红外探测器定标系统，其特征在于，包括：黑体辐射源，向光栅单色仪内发射红外光；

光栅单色仪，具有多个光栅和反射镜，使入射至光栅单色仪内的红外光形成照射到功率标准传递红外探测器和第一绝对低温辐射计的第一光路，或者形成照射到照度标准传递红外探测器和第二绝对低温辐射计的第二光路；

标准传递红外探测器，包括功率标准传递红外探测器和照度标准传递红外探测器；在1.1μm-2.6μm光谱波段，标准传递红外探测器使用InGaAs探测器；在1.9μm-5.5μm光谱波段，标准传递红外探测器使用InSb探测器；在3μm-12.5μm光谱波段，标准传递红外探测器使用HgCdTe探测器；在0.7μm-22μm光谱波段，标准传递红外探测器使用腔式热探测器；标准传递红外探测器作为照度标准传递红外探测器使用时需要在入光口前端安装精密孔径；

第一绝对低温辐射计和第二绝对低温辐射计，对光辐射功率测量不确定度应达到0.005％的水平；

光学斩波器，设置在黑体辐射源到光栅单色仪光路上，且用于对黑体辐射源发射的红外光进行斩波调制；

光栅单色仪内多个光栅的光谱范围至少能够覆盖0.7μm至22.6μm，使标准传递红外探测器定标系统能够实现0.7μm到22μm红外波段且不确定度优于3％的定标。

2.根据权利要求1所述基于黑体辐射光谱的标准传递红外探测器定标系统，其特征在于：包括红外光学仓；所述光栅单色仪设置在红外光学仓内；所述黑体辐射源、功率标准传递红外探测器、第一绝对低温辐射计、照度标准传递红外探测器、第二绝对低温辐射计均设置在红外光学仓外。

3.根据权利要求2所述基于黑体辐射光谱的标准传递红外探测器定标系统，其特征在于：包括位于红外光学仓内的离轴抛物面镜、平面反射镜、设置在光栅单色仪上的单色仪入射狭缝；所述黑体辐射源发射的红外光依次经离轴抛物面镜的汇聚、平面反射镜的反射以及所述光学斩波器后，聚焦于单色仪入射狭缝上；其中，单色仪入射狭缝安装在离轴抛物面镜的焦点上。

4.根据权利要求2所述基于黑体辐射光谱的标准传递红外探测器定标系统，其特征在于：包括位于红外光学仓内的消多级光滤片组、离轴抛物面镜组、设置在光栅单色仪上的单色仪出射狭缝、设置在红外光学仓上的功率出射狭缝；第一光路中的红外光依次经单色仪出射狭缝、消多级光滤片组、离轴抛物面镜组、功率出射狭缝，聚焦至功率标准传递红外探测器和第一绝对低温辐射计的光敏面上。

5.根据权利要求2所述基于黑体辐射光谱的标准传递红外探测器定标系统，其特征在于：包括开设在红外光学仓上的进气口、出气口。

6.根据权利要求1所述基于黑体辐射光谱的标准传递红外探测器定标系统，其特征在于：包括能够进行空间平移的三维平移台、二维平移台；所述功率标准传递红外探测器和第一绝对低温辐射计安装在三维平移台上；照度标准传递红外探测器和第二绝对低温辐射计安装在二维平移台上。