[发明专利]一种显示器Mura校准的多像素融合压缩方法有效

专利信息
申请号: 202210042407.5 申请日: 2022-01-14
公开(公告)号: CN114360449B 公开(公告)日: 2023-08-08
发明(设计)人: 蔡剑;李堃;黄鉴;叶选新;蔡杰羽;石炳磊;白海楠;朱诗文 申请(专利权)人: 苇创微电子(上海)有限公司
主分类号: G09G3/32 分类号: G09G3/32;G09G3/3208
代理公司: 广州京诺知识产权代理有限公司 44407 代理人: 于睿虬
地址: 201306 上海市浦东新区中国(上*** 国省代码: 上海;31
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摘要:
搜索关键词: 一种 显示器 mura 校准 像素 融合 压缩 方法
【说明书】:

发明提供了一种显示器Mura校准的多像素融合压缩方法,包括:拍摄待测显示屏的同色灰阶图像;提取各子像素的子像素亮度值;将n×m个相邻子像素的子像素亮度值进行融合,获取n×m子像素区块的平均亮度值,并获取亮度差异信息编码值;获得平均亮度值对应的平均灰度值,对各同色灰阶图像的平均灰度值进行建模拟合,获取建模参数;获得建模参数编码值;将亮度差异信息编码值和建模参数编码值合并作为Mura校准数据进行存储。本发明给出了一种使用1x2或更高的空间子像素融合压缩的补充方法,既保证DeMura质量也减少了数据量,Driver IC芯片上的面积和成本也减小了,有利于成本的降低。

技术领域

本发明涉及一种显示器Mura校准的多像素融合压缩方法,属于显示技术领域。

背景技术

在现有技术中,使用电流驱动的自发光显示器(包括OLED显示屏、MiniLED显示屏以及未来的MicroLED显示屏)由于制造工艺的限制,会产生子像素级别的电路上的不一致性。这种不一致性表现在显示上,即为一种整体或局部的显示不均匀性,表现为块状,沙装,点状等等,这种不均匀性统称为Mura(指显示器亮度不均匀,造成各种痕迹的现象)。Mura通常有亮度Mura和色Mura两种,表示亮度的不均匀性和颜色的不均匀性,目前限制Mura是国产OLED生产良率的主要因素之一。而对于显示器的Mura校准通常称为DeMura。

目前业界常用的DeMura方案是针对每一个子像素的显示特性做建模、压缩。由于显示屏的子像素数目特别多,通常是4-6百万个子像素,其建模的数据大约有600Mbytes,其建模的数据过于庞大,若能将建模数据压缩到2Mbyte以内,则可大幅节约存储空间,因此,急需一种能够有效压缩建模数据的方法,并尽可能保证建模的准确性。

发明内容

为解决现有的技术问题,本发明提供一种显示器Mura校准的多像素融合压缩方法,使相邻的若干个子像素共用同一套建模数据,同时加入亮度差异信息编码值,以减少因为像素融合而带来的误差。

本发明一方面提供了一种显示器Mura校准的多像素融合压缩方法,具体步骤如下:

拍摄:采用成像亮度计拍摄待测显示屏的若干个同色灰阶图像;

提图:提取各同色灰阶图像中,各子像素的子像素亮度值其中,i、j均为正整数,i为同色灰阶图像的编号,j为子像素编号;

子像素融合:将n×m个相邻子像素的子像素亮度值进行融合,获取n×m子像素区块的平均亮度值并且获取亮度差异信息编码值,所述亮度差异信息编码值用于记录n×m个相邻子像素之间的亮度值差异信息,所述亮度差异信息编码值包括差异模式编码值和差异大小编码值;其中,n和m为正整数;

建模拟合:对平均亮度值进行去伽马运算,获得对应的平均灰度值,对各同色灰阶图像的所述平均灰度值进行建模拟合,获取建模参数;对所述建模参数进行编码,获得建模参数编码值;

存储:将所述亮度差异信息编码值和所述建模参数编码值合并作为Mura校准数据进行存储。

进一步地,所述差异模式编码值用于记录相邻子像素的子像素亮度值大小关系,或相邻子像素区块的平均亮度值大小关系;

所述差异大小编码值用于记录相邻子像素的子像素亮度值差异大小组别,或相邻子像素区块的平均亮度值差异大小组别。

进一步地,所述亮度值差异编码值包括若干组差异模式编码值和差异大小编码值,每组差异模式编码值和差异大小编码值用于记录两个相邻子像素的亮度值差异信息,或两个相邻子像素区块的平均亮度值差异信息。

进一步地,每组差异模式编码值和差异大小编码值中,所述差异模式编码值占用一个比特,所述差异大小编码值占用t个比特,1≤t≤7,t为正整数,所述差异大小编码值对应2t个差异大小组别。

进一步地,所述子像素融合步骤具体为:

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