[发明专利]射频信号测试电路、测试探针和电子设备

说明书

本申请公开了一种射频信号测试电路、测试探针和电子设备，属于电子技术领域。具体方案包括：射频网络、天线网络以及测试焊盘；所述射频网络通过所述测试焊盘连接至所述天线网络，所述测试焊盘连接于所述射频网络和所述天线网络之间；在所述射频信号测试电路处于信号测试状态的情况下，测试探针的信号导体连接在所述测试焊盘上，所述测试探针的地导体连接所述天线网络的馈电端；所述天线网络的相位变换值为所述射频网络的相位变换值的预设倍数。

技术领域

本申请属于电子技术领域，具体涉及一种射频信号测试电路、测试探针和电子设备。

背景技术

通常，为了测试射频信号，可以在电子设备中设置一个能够与测试探针连接的射频测试座，一个天线可以对应一个射频测试座。然而，随着通信技术的发展，电子设备中的天线越来越多，射频测试座的数量也随之在增加。如此，不仅会使电路布局空间越来越小，还会增加电路成本。

发明内容

本申请实施例的目的是提供一种射频信号测试电路、测试探针和电子设备，能够解决电路布局空间越来越小，电路成本增加的问题。

第一方面，本申请实施例提供了一种射频信号测试电路，包括：射频网络、天线网络以及测试焊盘；所述射频网络通过所述测试焊盘连接至所述天线网络，所述测试焊盘连接于所述射频网络和所述天线网络之间；在所述射频信号测试电路处于信号测试状态的情况下，测试探针的信号导体连接在所述测试焊盘上，所述测试探针的地导体连接所述天线网络的馈电端；所述天线网络的相位变换值为所述射频网络的相位变换值的预设倍数。

第二方面，本申请实施例提供了一种电子设备，该电子设备包括如第一方面所述的射频信号测试电路。

第三方面，本申请实施例提供一种测试探针，包括信号导体和地导体，所述信号导体连接在射频信号测试电路的测试焊盘上，所述地导体连接所述射频信号测试电路中天线网络的馈电端。

在本申请实施例中，包括射频网络、天线网络以及测试焊盘；所述射频网络通过所述测试焊盘连接至所述天线网络，所述测试焊盘连接于所述射频网络和所述天线网络之间；在所述射频信号测试电路处于信号测试状态的情况下，测试探针的信号导体连接在所述测试焊盘上，所述测试探针的地导体连接所述天线网络的馈电端；所述天线网络的相位变换值为所述射频网络的相位变换值的预设倍数。通过该方案，由于将测试探针的地导体连接天线网络的馈电端，且天线网络的相位变换值为射频网络的相位变换值的预设倍数。因此，不仅可以避免测试焊盘的后端电路对测试过程的影响，还可以节约射频测试座的器件成本，以及射频测试座在电路布局中占用的空间。

附图说明

图1是现有技术中射频信号测试电路的示意图；

图2是本申请实施例提供的射频信号测试电路的示意图之一；

图3是本申请实施例提供的射频信号测试电路的示意图之二；

图4是本申请实施例提供的射频信号测试电路的示意图之三；

图5是本申请实施例提供的射频信号测试电路的示意图之四。

具体实施方式

下面将结合本申请实施例中的附图，对本申请实施例中的技术方案进行清楚地描述，显然，所描述的实施例是本申请一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本申请中的实施例，本领域普通技术人员获得的所有其他实施例，都属于本申请保护的范围。

本申请的说明书和权利要求书中的术语“第一”、“第二”等是用于区别类似的对象，而不用于描述特定的顺序或先后次序。应该理解这样使用的数据在适当情况下可以互换，以便本申请的实施例能够以除了在这里图示或描述的那些以外的顺序实施，且“第一”、“第二”等所区分的对象通常为一类，并不限定对象的个数，例如第一对象可以是一个，也可以是多个。此外，说明书以及权利要求中“和/或”表示所连接对象的至少其中之一，字符“/”，一般表示前后关联对象是一种“或”的关系。