[发明专利]光检测装置

说明书

一种光检测装置，包括基板、第一光检测器、第二光检测器以及开关元件。第一光检测器设置于基板上且包括第一主动层。第二光检测器设置于基板以及第一光检测器之间，且第二光检测器包括第二主动层。开关元件设置于基板上。第二主动层在基板的水平投影完全落在第一主动层在基板的水平投影内，且第一光检测器的负极以及第二光检测器的负极通过第一金属层电性连接开关元件。

技术领域

本发明涉及一种光检测装置。

背景技术

光检测装置利用电磁波(光)产生电信号的过程来检测光的存在。然而，在传统的光检测装置中，对应不同光波段的光检测器往往同层设置，造成整体像素面积大。并且，由于对应不同光波段的光检测器通常是通过不同的开关元件来控制扫频，造成光检测装置的开口率小。在上述的架构下，不同光波段的扫频有时间差，且整体的扫频时间长。再者，由于光检测器需要针对对应的光波段来对位色阻，也造成工艺工序的复杂化。

发明内容

本发明的目的在于提供一种光检测装置，不需要对色阻对位，像素面积小、开口率大，不同光波段的检测无时间差，且扫频时间短。

根据本发明一实施例，提供一种光检测装置，包括基板、第一光检测器、第二光检测器以及开关元件。第一光检测器设置于基板上且包括第一主动层。第二光检测器设置于基板以及第一光检测器之间，且第二光检测器包括第二主动层。开关元件设置于基板上。第二主动层在基板的水平投影完全落在第一主动层在基板的水平投影内，且第一光检测器的负极以及第二光检测器的负极通过第一金属层电性连接开关元件。

基于上述，本发明实施例提供的光检测装置将对应不同光波段的第一光检测器以及第二光检测器层叠设置，相较于传统同层设置的方式，大幅减少像素面积，且省略了色阻对位的工艺。此外，第一光检测器以及第二光检测器以同一个开关元件同时扫频，减少了开关元件的数量，增加开口率，不同波段之间的扫频没有时间差，并缩短整体的扫频时间。

为让本发明的上述特征和优点能更明显易懂，下文特举实施例，并配合所附附图作详细说明如下。

附图说明

图1是根据本发明一实施例的光检测器的横截面示意图。

图2是根据本发明一实施例的第一光检测器及第二光检测器对不同波段的检测示意图。

图3是根据本发明一实施例的第一主动层及第二主动层的平面示意图。

附图标记如下：

1:光检测装置

10:基板

20:保护层

30:缓冲层

40:绝缘层

100:第一光检测器

101:第一主动层

101N:第一光检测器负极

101R:第一光反射层

200:第二光检测器

201:第二主动层

201P:第二光检测器正极

201N:第二光检测器负极

201R:金属反射层

300:开关元件

GI:闸级绝缘层

ILD:层间绝缘层

ITO1:第一透明电极层

ITO2:第二透明电极层

L1:光束