[发明专利]改进的装置控制以最大化系统利用率在审
| 申请号: | 202180080973.9 | 申请日: | 2021-12-02 |
| 公开(公告)号: | CN116547779A | 公开(公告)日: | 2023-08-04 |
| 发明(设计)人: | J·W·史密斯;S·T·夸姆比 | 申请(专利权)人: | 萨默费尼根有限公司 |
| 主分类号: | H01J49/02 | 分类号: | H01J49/02 |
| 代理公司: | 上海专利商标事务所有限公司 31100 | 代理人: | 周全 |
| 地址: | 美国加利*** | 国省代码: | 暂无信息 |
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| 摘要: | |||
| 搜索关键词: | 改进 装置 控制 最大化 系统 利用率 | ||
1.一种方法,所述方法包括:
获得针对电气部件的脉冲响应曲线;
使用所述脉冲响应曲线执行约束凸优化,以确定DC滤波器输入,从而在一组四极杆杆上实现所需的电压;
利用所述约束凸优化的结果使DC杆驱动器产生所述DC滤波器输入;
基于质荷比选择穿过所述一组四极杆杆的离子;以及
测量所述离子的强度。
2.根据权利要求1所述的方法,其中所述电气部件是DC滤波器。
3.根据权利要求1或2所述的方法,其中所述脉冲响应曲线是通过对所述DC滤波器进行建模而确定的理论脉冲响应曲线。
4.根据权利要求3所述的方法,其中所述理论脉冲响应曲线能够被调整以解释离子信号响应。
5.根据权利要求1或2所述的方法,其中所述脉冲响应曲线是根据经验确定的脉冲响应曲线。
6.根据权利要求5所述的方法,其中通过监测所述离子信号响应来确定所述根据经验确定的脉冲响应曲线。
7.根据权利要求5或6所述的方法,其中所述根据经验确定的脉冲响应曲线是针对示例性系统上的类似电气部件测量的。
8.根据权利要求5或6所述的方法,其中所述根据经验确定的脉冲响应曲线是在工厂中针对所述电气部件测量的。
9.根据权利要求5或6所述的方法,其中在调谐期间测量针对所述电气部件的所述根据经验确定的脉冲响应曲线。
10.根据权利要求1至9中任一项所述的方法,其中所述约束凸优化在构建仪器方法时执行,并用于所述仪器方法的后续使用。
11.根据权利要求1至9中任一项所述的方法,其中所述约束凸优化在运行或一系列运行开始时执行。
12.根据权利要求1至9中任一项所述的方法,其中所述DC滤波器输入能够从经常使用的变化库中生成。
13.一种质谱仪,所述质谱仪包括:
离子源,所述离子源被配置成从样品产生离子;
一组四极杆杆,所述一组四极杆杆被配置为基于质荷比选择离子;
DC杆驱动器,所述DC杆驱动器被配置为产生电压;
DC杆驱动滤波器,所述DC杆驱动滤波器被配置为滤波RF频率干扰;和
控制器,所述控制器被配置为:
利用约束凸优化的结果以使所述DC杆驱动器产生DC滤波器输入,并向所述一组四极杆杆提供所需电压,所述约束凸优化利用所述DC杆驱动滤波器的脉冲响应曲线来确定所述DC滤波器输入,以在所述一组四极杆杆上实现所述所需电压;
基于所述质荷比选择穿过所述一组四极杆杆的离子;以及
测量所述离子的强度。
14.根据权利要求13所述的质谱仪,其中所述脉冲响应曲线是通过对所述DC杆驱动滤波器进行建模而确定的理论脉冲响应曲线。
15.根据权利要求14所述的质谱仪,其中所述理论脉冲响应曲线能够被调整以解释离子信号响应。
16.根据权利要求13所述的质谱仪,其中所述脉冲响应曲线是根据经验确定的脉冲响应曲线。
17.根据权利要求16所述的质谱仪,其中通过监测所述离子信号响应来确定所述根据经验确定的脉冲响应曲线。
18.根据权利要求16或17所述的质谱仪,其中所述根据经验确定的脉冲响应曲线是针对示例性系统上的类似电气部件测量的。
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