[发明专利]用于检测流动通过导体的电流的传感器

权利要求书

1.一种用于检测流动通过导体(12)的电流(14)的传感器(10)，所述传感器包括：

第一磁场传感器(16)，所述第一磁场传感器构造用于检测由所述导体(12)产生的磁场，其中，所述第一磁场传感器(16)构造用于基于所检测的磁场输出第一信号，所述第一信号显示流动通过所述导体(12)的电流，

第二磁场传感器(22)，所述第二磁场传感器构造用于检测由所述导体(12)产生的磁场，其中，所述第二磁场传感器(22)构造用于基于所检测的磁场输出第二信号，

分析处理电路板(26)上的分析处理电路(24)，其中，所述第一磁场传感器(16)和所述第二磁场传感器(22)与所述分析处理电路(24)连接，其中，所述第一信号和所述第二信号能够由所述分析处理电路(24)检测，其中，所述分析处理电路(24)构造用于借助所述第二信号对所述第一信号进行可信度检验。

2.根据上述权利要求所述的传感器(10)，其中，所述第一磁场传感器(16)具有磁芯(18)和包围所述磁芯(18)的线圈(20)，其中，所述线圈(20)构造用于产生磁交变场，其中，所述第一信号是由感应电压和所施加的电压构成的叠加。

3.根据上述权利要求中任一项所述的传感器(10)，其中，所述第一磁场传感器(16)另外具有测量电阻、尤其是分流电阻，其中，所述第一信号能够借助所述测量电阻转化为第一电流，其中，所述第一电流与流动通过所述导体(12)的电流成比例。

4.根据上述权利要求中任一项所述的传感器(10)，其中，所述第一磁场传感器(16)构造成至少部分地包围所述导体(12)，其中，所述第二磁场传感器(22)布置在所述分析处理电路板(26)上。

5.根据上述权利要求中任一项所述的传感器(10)，其中，所述分析处理电路(24)构造用于连续地且并行地检测所述第一信号和所述第二信号，或者其中，所述分析处理电路(24)构造用于间歇性地且按顺序地检测所述第一信号和所述第二信号。

6.根据上述权利要求中任一项所述的传感器(10)，其中，所述第二磁场传感器(22)平面地构造。

7.根据上述权利要求中任一项所述的传感器(10)，其中，所述第二磁场传感器(22)垂直于所述分析处理电路板(26)布置。

8.根据上述权利要求中任一项所述的传感器(10)，其中，所述第二磁场传感器(22)是霍尔传感器或者xMR磁强计。

9.根据上述权利要求中任一项所述的传感器(10)，其中，所述第一磁场传感器(16)是弗斯特探测器。

10.根据上述权利要求中任一项所述的传感器(10)，其中，所述分析处理电路(24)构造用于，通过检测彼此的绝对偏差或者相对偏差来借助所述第二信号对所述第一信号进行可信度检验。