[发明专利]水溶性薄膜及包装体在审
申请号: | 202180046096.3 | 申请日: | 2021-06-14 |
公开(公告)号: | CN115777001A | 公开(公告)日: | 2023-03-10 |
发明(设计)人: | 冈本稔;清水沙也加;风藤修 | 申请(专利权)人: | 株式会社可乐丽 |
主分类号: | C08J5/18 | 分类号: | C08J5/18 |
代理公司: | 中国专利代理(香港)有限公司 72001 | 代理人: | 高旭轶;林毅斌 |
地址: | 日本冈山县*** | 国省代码: | 暂无信息 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 水溶性 薄膜 包装 | ||
本发明提供一种能够兼顾冷水溶解性和耐氧化降解性的水溶性薄膜。本发明的水溶性薄膜含有聚乙烯醇树脂,在至少单面具有通过X射线光电子分光分析获得的总碳键中的羰基的存在比例为1至5%的表面,并且在10℃的水中的全溶时间为120秒以下。
技术领域
本发明涉及一种适合用于各种药剂的封装等的水溶性薄膜及使用了其的包装体。
背景技术
以往,水溶性薄膜利用其水溶性而使用于液体洗涤剂、农药等各种药剂的包装、内含种子的种子带等广泛的领域。
在用于该用途的水溶性薄膜中提出了一种薄膜,其主要使用了聚乙烯醇树脂(以下,有时称为PVA),通过配合增塑剂等各种添加剂,或使用改性聚乙烯醇而提高了水溶性(例如,专利文献1)。
在上述以往的方法中,通过降低PVA的结晶度的方法来改善了水溶性。然而,近年来,在需求不断扩大的液体洗涤剂的包装体等中,在具有氧化性的药剂的情况下,趋于水溶性薄膜容易在与药剂接触的内侧面发生氧化降解。若发生氧化降解,则水溶性薄膜的强度降低,有时会成为破损等的原因。
以往技术文献
专利文献
专利文献1:日本特开2017-078166号公报
发明内容
发明要解决的技术课题
已知氧化降解特别容易以PVA的羰基(以下,有时称为C=O)为起点发生。并且,已知采用如下结构,即,通过以PVA的末端醛为起点,在位于其旁边的乙烯醇单元产生脱水反应而生成碳-碳双键(以下,有时称为C=C),其进一步引起相邻的乙烯醇单元中的脱水反应而产生的共轭双键结构、所谓的多烯结构。如在水溶性薄膜的表面存在大量该多烯结构的情况下,水溶性薄膜的疏水性变高且耐氧化降解性得到提高。另一方面,若水溶性薄膜的疏水性过高,则薄膜在冷水中的溶解性(冷水溶解性)降低。即,在水溶性薄膜的冷水溶解性和耐氧化降解性中存在此消彼长的关系。在以往的水溶性薄膜中,难以兼顾薄膜的冷水溶解性和耐氧化降解性。
因此,本发明的目的在于提供一种能够兼顾冷水溶解性和耐氧化降解性的水溶性薄膜。
用于解决技术课题的手段
作为对存在于薄膜表面等的元素量进行定量的方法,有X射线光电分光分析(以下,有时称为XPS)。在使用了PVA的水溶性薄膜的情况下,通过XPS测量,除了碳(C)、氧(O)等以外,还能够对氟(F)、硅(Si)等各元素进行定量。
并且,还能够根据基于XPS的各种元素的详细分析来确定该元素的键合状态和其存在比例。例如,能够区分碳-碳单键(以下,有时称为C-C)和C=O,并且能够求出总碳键中所占的各键的比率。
本发明人等根据上述基于XPS的各种元素的详细分析的见解重复进行深入研究的结果,发现通过将通过X射线光电子分光分析对水溶性薄膜的单面或两面的表面部进行分析而获得的、总碳键中的羰基的存在比例调整在特定的范围内,可实现上述课题,并根据该见解进一步重复研究而完成了本发明。
即,本发明涉及如下内容:
[1]
一种水溶性薄膜,其含有聚乙烯醇树脂,在至少单面具有通过X射线光电子分光分析获得的总碳键中的羰基的存在比例为1至5%的表面,并且在10℃的水中的全溶时间为120秒以下。
而且,本发明涉及如下内容:
[2]
根据上述[1]所述的水溶性薄膜,其中,
在所述总碳键中的羰基的存在比例在所述范围内的表面上,进一步通过X射线光电子分光分析获得的碳-碳单键的存在比例与所述羰基的存在比例之比(C-C/C=O)为10至50;
[3]
根据上述[1]或[2]所述的水溶性薄膜,其中,
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