[发明专利]一种原位实时程序升温分析方法在审
申请号: | 202180035092.5 | 申请日: | 2021-03-26 |
公开(公告)号: | CN115552216A | 公开(公告)日: | 2022-12-30 |
发明(设计)人: | 李昕欣;许鹏程;姚方兰;李昕昱;于海涛 | 申请(专利权)人: | 中国科学院上海微系统与信息技术研究所 |
主分类号: | G01N5/04 | 分类号: | G01N5/04 |
代理公司: | 广州三环专利商标代理有限公司 44202 | 代理人: | 郝传鑫;贾允 |
地址: | 200050 *** | 国省代码: | 上海;31 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 原位 实时 程序 升温 分析 方法 | ||
一种原位实时程序升温分析方法,包括:将待测样品滴加在至少一个测试传感器(1)的样品涂覆区;将测试传感器(1)在第一预设温度范围内进行程序升温以获得基线;基线为通过记录测试传感器(1)在程序升温过程中的谐振频率变化数据得到;将测试传感器(1)在第二预设温度范围内进行程序升温以获得测量曲线;测量曲线为通过记录测试传感器(1)在程序升温过程中的谐振频率变化数据得到;根据基线和测量曲线得到程序升温分析曲线。采用自身集成有加热和数据采集功能的测试传感器(1)对待测样品进行程序升温分析,减少了检测结果的滞后性,且精确度高、反应灵敏,简化了程序升温分析方法,实现对样品的精确定量化分析。
PCT国内申请,说明书已公开。
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