[发明专利]一种原位实时程序升温分析方法在审

专利信息
申请号: 202180035092.5 申请日: 2021-03-26
公开(公告)号: CN115552216A 公开(公告)日: 2022-12-30
发明(设计)人: 李昕欣;许鹏程;姚方兰;李昕昱;于海涛 申请(专利权)人: 中国科学院上海微系统与信息技术研究所
主分类号: G01N5/04 分类号: G01N5/04
代理公司: 广州三环专利商标代理有限公司 44202 代理人: 郝传鑫;贾允
地址: 200050 *** 国省代码: 上海;31
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摘要:
搜索关键词: 一种 原位 实时 程序 升温 分析 方法
【说明书】:

一种原位实时程序升温分析方法,包括:将待测样品滴加在至少一个测试传感器(1)的样品涂覆区;将测试传感器(1)在第一预设温度范围内进行程序升温以获得基线;基线为通过记录测试传感器(1)在程序升温过程中的谐振频率变化数据得到;将测试传感器(1)在第二预设温度范围内进行程序升温以获得测量曲线;测量曲线为通过记录测试传感器(1)在程序升温过程中的谐振频率变化数据得到;根据基线和测量曲线得到程序升温分析曲线。采用自身集成有加热和数据采集功能的测试传感器(1)对待测样品进行程序升温分析,减少了检测结果的滞后性,且精确度高、反应灵敏,简化了程序升温分析方法,实现对样品的精确定量化分析。

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