[发明专利]表面包覆切削工具在审
| 申请号: | 202180024545.4 | 申请日: | 2021-03-12 |
| 公开(公告)号: | CN115335166A | 公开(公告)日: | 2022-11-11 |
| 发明(设计)人: | 佐藤峻 | 申请(专利权)人: | 三菱综合材料株式会社 |
| 主分类号: | B23B27/14 | 分类号: | B23B27/14;B23B51/00;C23C14/06 |
| 代理公司: | 北京德琦知识产权代理有限公司 11018 | 代理人: | 辛雪花;周艳玲 |
| 地址: | 日本*** | 国省代码: | 暂无信息 |
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| 摘要: | |||
| 搜索关键词: | 表面 切削 工具 | ||
1.一种表面包覆切削工具,具有工具基体和该工具基体的表面上的包覆层,其特征在于,
1)所述包覆层的平均层厚为0.5~8.0μm,所述包覆层从所述工具基体侧朝向工具表面依次具有下部层、中间层和上部层,
2)在由组成式:(Al1-xCrx)N表示平均层厚为0.1~4.0μm的所述下部层的平均组成时,所述下部层由所述x为0.20~0.60的A层构成,
3)在由组成式:(Al1-a-bCraSib)N表示平均层厚为0.1~4.0μm的所述中间层的平均组成时,所述中间层由所述a为0.20~0.60、所述b为0.01~0.20的B层构成,
4)所述B层具有相邻的极大值与极小值的平均间隔为1~100nm的Si浓度的重复变化,
在将所述Si浓度的所述极大值的平均值设为Simax时,1.0<Simax/b≤2.0,
并且,在将所述Si浓度的所述极小值的平均值设为Simin时,0.0≤Simin/b<1.0,
5)在由组成式:(Ti1-α-βSiαWβ)N表示平均层厚为0.1~4.0μm的所述上部层的平均组成时,所述上部层由所述α为0.01~0.20、所述β为0.01~0.10的C层构成,
6)所述C层具有相邻的极大值与极小值的平均间隔为1~100nm的W浓度的重复变化,
在将所述W浓度的所述极大值的平均值设为Wmax时,1.0<Wmax/β≤2.0,
并且,在将所述W浓度的所述极小值的平均值设为Wmin时,0.0≤Wmin/β<1.0。
2.根据权利要求1所述的表面包覆切削工具,其特征在于,
所述中间层为D层,所述D层为所述B层与所述A层的交替层叠且其平均层厚为0.5~4.0μm,在该D层中包含两个以上的所述B层。
3.根据权利要求1或2所述的表面包覆切削工具,其特征在于,
在所述中间层与所述上部层之间具有平均层厚为0.1~2.0μm的密接层,在由组成式:(Al1-k-l-m-nTikCrlSimWn)N表示所述密接层的组成时,所述密接层由所述k为0.20~0.65、所述l为0.10~0.35、所述m大于0.00且为0.15以下、所述n大于0.00且为0.05以下的E层构成,
所述E层具有相邻的极大值与极小值的平均间隔为1~100nm的Si浓度的重复变化,
在将所述Si浓度的所述极大值的平均值设为Simax(E)时,1.0<Simax(E)/m≤2.0,
并且,在将所述Si浓度的所述极小值的平均值设为Simin(E)时,0.0≤Simin(E)/b<1.0。
4.根据权利要求1~3中任一项所述的表面包覆切削工具,其特征在于,
在构成所述包覆层的各层中包含具有岩盐型立方晶结构的晶粒,
在汇总由所述A层和所述B层分别得到的X射线衍射峰并求出时,200衍射线的峰的半峰全宽为0.2~1.0度,在将所述衍射线的峰强度设为IAB200、将其111衍射线的峰强度设为IAB111时,0.5<IAB200/IAB111<10.0,
在将所述C层的200衍射线的峰强度设为IC200、将其111衍射线的峰强度设为IC111时,0.5<IC200/IC111<10.0。
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