[发明专利]用于零售应用程序的使用毫米波进行箔检测的系统和方法

权利要求书

1.一种用于零售应用程序的使用毫米波(mmWave)检测金属箔的系统，其包含：

一个或多个基座，所述一个或多个基座被定位成限定通向出口点的出口；

一个或多个安全标签读取器，所述一个或多个安全标签读取器与所述一个或多个基座固定地定位，被配置成从接近所述出口的安全标签读取数据；以及

一个或多个毫米波接收器，所述一个或多个毫米波接收器固定地定位在所述出口点附近，被配置成接收来自金属箔的一个或多个反射的毫米波束，其中检测到金属箔会产生警报消息。

2.根据权利要求1所述的系统，其进一步包含一个或多个毫米波发射器，所述一个或多个毫米波发射器被配置成向所述金属箔发射一个或多个入射毫米波束。

3.根据权利要求2所述的系统，其中所述一个或多个毫米波接收器进一步被配置成比较所述一个或多个入射毫米波束和所述一个或多个反射的毫米波束。

4.根据权利要求3所述的系统，其中比较包含将所述一个或多个入射毫米波束的发射器幅度、发射器相位、发射器频率或发射器频移中的至少一者与所述一个或多个反射的毫米波束的接收器幅度、接收器相位、接收器频率或接收器频移中的至少一者进行比较。

5.根据权利要求1所述的系统，其中所述一个或多个毫米波接收器进一步被配置成基于所述一个或多个反射的毫米波束的接收信号强度来检测所述金属箔。

6.根据权利要求5所述的系统，其中检测所述金属箔包含：

将所述接收信号强度与阈值进行比较；以及

响应于所述接收信号强度大于所述阈值而生成所述警报消息。

7.一种检测金属箔的方法，其包含：

向所述金属箔发射一个或多个入射毫米波束；

接收一个或多个反射的毫米波束；

基于所述一个或多个反射的毫米波束检测所述金属箔；以及

响应于检测到所述金属箔而生成警报。

8.根据权利要求7所述的方法，其中检测所述金属箔进一步包含将所述一个或多个入射毫米波束和所述一个或多个反射的毫米波束进行比较。

9.根据权利要求8所述的方法，其中比较进一步包含将所述一个或多个入射毫米波束的发射器幅度、发射器相位、发射器频率或发射器频移中的至少一者与所述一个或多个反射的毫米波束的接收器幅度、接收器相位、接收器频率或接收器频移中的至少一者进行比较。

10.根据权利要求7所述的方法，其中检测所述金属箔包含基于所述一个或多个反射的毫米波束的接收信号强度来检测所述金属箔。

11.根据权利要求10所述的方法，其中检测所述金属箔进一步包含将所述接收信号强度与阈值进行比较。

12.一种包含指令的非暂时性计算机可读介质，所述指令在由一个或多个处理器执行时使得所述一个或多个处理器：

致使一个或多个毫米波发射器向所述金属箔发射一个或多个入射毫米波束；

致使一个或多个毫米波接收器接收一个或多个反射的毫米波束；

基于所述一个或多个反射的毫米波束来检测金属箔；以及

响应于检测到所述金属箔而生成警报。

13.根据权利要求12所述的非暂时性计算机可读介质，其中用于检测所述金属箔的所述指令进一步包含用于将所述一个或多个入射毫米波束和所述一个或多个反射的毫米波束进行比较的指令。

14.根据权利要求13所述的方法，其中用于进行比较的所述指令还包括用于将所述一个或多个入射毫米波束的发射器幅度、发射器相位、发射器频率或发射器频移中的至少一者与所述一个或多个反射的毫米波束的接收器幅度、接收器相位、接收器频率或接收器频移中的至少一者进行比较的指令。