[发明专利]用于控制进程的电子装置及其方法在审
申请号: | 202180013195.1 | 申请日: | 2021-01-20 |
公开(公告)号: | CN115053198A | 公开(公告)日: | 2022-09-13 |
发明(设计)人: | 方性龙;卢泫陈;权秉洙;金钟佑;李相旼;金学烈;金武永 | 申请(专利权)人: | 三星电子株式会社 |
主分类号: | G06F1/20 | 分类号: | G06F1/20;G06F1/3215;G06F1/3228;G06F1/3287;G06F1/329 |
代理公司: | 北京市立方律师事务所 11330 | 代理人: | 谢玉斌 |
地址: | 韩国*** | 国省代码: | 暂无信息 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | |||
搜索关键词: | 用于 控制 进程 电子 装置 及其 方法 | ||
在某些实施例中,一种电子装置包括温度传感器;以及,处理器,其中所述处理器被配置为:检测所述电子装置的温度超过预定温度;当所述温度超过所述预定温度时,驱动满足预定条件的至少一个进程达时间段的一部分,并且在剩余的时间段内不驱动所述至少一个进程。
技术领域
本公开的某些实施例涉及一种用于控制进程的电子装置及其方法。
背景技术
电子装置能够执行许多功能。随着技术的发展,即使是相同功能的性能也得到了改善。此外,当对电子装置施加电力时,正在后台执行的功能就会增加。例如,数据传输速度提高了,并且电子装置可以输出高分辨率的运动图像重放。当电子装置打开时,即使是与安全相关的应用也可以在后台中运行。然而,由于许多功能是在有限的资源下执行的,所以可能会出现许多问题。
发明内容
技术问题
当电子装置使用诸如通信模块或处理器的某些元件时,这种使用会发热。如果发热量过大,热会使所使用的元件劣化,甚至损坏所使用的元件。
限制系统的整体性能可以缓解前述问题。此方法可以通过减少处理器的周期数或强制终止不经常使用的进程来限制系统的性能。然而,这可能会造成用户的服务质量满意度下降的问题。
问题的解决方案
在某些实施例中,一种电子装置包括温度传感器;以及处理器,其中所述处理器被配置为:检测所述电子装置的温度超过预定温度;当所述温度超过所述预定温度时,驱动满足预定条件的至少一个进程达时间段的一部分,并且在剩余的时间段内不驱动所述至少一个进程。
在某些实施例中,一种用于操作电子装置的方法,包括:检测电子装置的温度超过预定温度;当所述温度超过所述预定温度时,驱动满足预定条件的至少一个进程达时间段的一部分,并且在剩余的时间段内不驱动所述至少一个进程。
在本公开中可以获得的效果并不限于上述效果,其他未提及的效果可以由本公开所涉及的技术领域的普通技术人员从以下描述中清楚地理解。
本发明的有益效果
根据本公开的某些实施例,所述电子装置可以通过控制正在后台执行的进程来控制所述电子装置的发热。
根据本公开的某些实施例,所述电子装置可以通过适应性地控制对用户的感知性能不太敏感的进程来控制所述电子装置的发热。
根据公开的某些实施例,当控制所述电子装置的发热时,可能不会降低提供给用户的服务质量。
附图说明
关于附图的描述,相同或类似的附图标记可用于相同或类似的构成元件。从结合附图的以下详细描述中,本公开的某些实施例的上述和其他的方面、特征和优点将更加明显,其中:
图1是根据本公开的某些实施例的网络环境中的电子装置的框图。
图2是示出了根据本公开的某些实施例的电子装置的一部分的框图。
图3是根据本公开的某些实施例的按照电子装置的功能的框图。
图4是根据本公开的某些实施例的按照电子装置的功能的流程图。
图5是示出了根据本公开的某些实施例的由进程控制器调度的进程的图。
图6是根据本公开的实施例的电子装置的流程图。
图7A是根据本公开的另一实施例的电子装置的流程图。
图7B是根据本公开的另一实施例的电子装置的流程图。
具体实施方式
当电子装置使用诸如通信模块或处理器的某些元件时,这种使用会发热。如果发热量过大,热会使所使用的元件劣化,甚至损坏所使用的元件。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于三星电子株式会社,未经三星电子株式会社许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/202180013195.1/2.html,转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇:存储图像的电子装置和方法
- 下一篇:臂模块、机器人臂及工业机器人