[发明专利]测试设备中的测试器通道复用在审
申请号: | 202180003903.3 | 申请日: | 2021-10-30 |
公开(公告)号: | CN114174843A | 公开(公告)日: | 2022-03-11 |
发明(设计)人: | 张洋洋;汝峰;陈轶;王梦达 | 申请(专利权)人: | 长江存储科技有限责任公司 |
主分类号: | G01R31/319 | 分类号: | G01R31/319 |
代理公司: | 北京永新同创知识产权代理有限公司 11376 | 代理人: | 于景辉;李文彪 |
地址: | 430000 湖北省武*** | 国省代码: | 湖北;42 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 测试 设备 中的 通道 | ||
在某些方面,用于测试器通道的波形驱动装置包括波形发生器、位图寄存器和输出逻辑电路。波形发生器被配置为基于驱动源信号来生成波形信号。位图寄存器被配置为存储与测试器通道相关联的位图。输出逻辑电路耦合到位图寄存器和波形发生器,并被配置为基于来自位图的位控制信号来控制通过测试器通道的波形信号的输出。
背景技术
本公开涉及一种电子器件的测试设备。
测试设备可以将一个或多个被测器件(device under test,DUT)的测试组织成一组连续的测试周期,并在每个测试周期期间对一个或多个DUT执行测试活动。测试设备可以包括一组测试器通道,每个测试器通道分别耦合到一个或多个DUT的一个或多个引脚。在测试周期期间,测试设备可以分别向该组测试器通道提供驱动源信号。如果来自该组测试器通道的测试器通道被启用,则测试器通道可以驱动耦合到测试器通道的一个或多个DUT的一个或多个对应引脚以基于驱动源信号执行测试活动。
发明内容
在一方面,一种用于测试器通道的波形驱动装置包括波形发生器、位图寄存器和输出逻辑电路。波形发生器被配置为基于驱动源信号来生成波形信号。位图寄存器被配置为存储与测试器通道相关联的位图。输出逻辑电路耦合到位图寄存器和波形发生器,并被配置为基于来自位图的位控制信号来控制通过测试器通道的波形信号的输出。
在另一方面,一种测试设备包括多个测试器通道。每个测试器通道包括波形发生器、位图寄存器和输出逻辑电路。波形发生器被配置为基于驱动源信号来生成波形信号。位图寄存器被配置为存储与测试器通道相关联的位图。输出逻辑电路耦合到位图寄存器和波形发生器,并被配置为基于来自位图的位控制信号来控制通过测试器通道的波形信号的输出。
在又一方面,一种测试设备包括选择寄存器和用于一个或多个测试器通道的一个或多个波形驱动装置。选择寄存器被配置为存储选择索引。选择索引是基于选择命令确定的。一个或多个波形驱动装置耦合到选择寄存器,并被配置为分别基于驱动源信号为一个或多个测试器通道生成一个或多个波形信号。一个或多个波形驱动装置进一步被配置为基于选择索引和与一个或多个测试器通道相关联的一个或多个位图来分别控制通过一个或多个测试器通道的一个或多个波形信号的输出。
在又一方面,提供了一种用于控制测试设备中的一个或多个测试器通道的方法。基于选择命令生成选择索引。分别基于驱动源信号生成用于一个或多个测试器通道的一个或多个波形信号。基于选择索引和与一个或多个测试器通道相关联的一个或多个位图来分别控制通过一个或多个测试器通道的一个或多个波形信号的输出。
在又一方面,公开了一种用于控制测试设备中的测试器通道的方法。获得与测试器通道相关联的位图。波形信号是基于驱动源信号或时序格式中的至少一个生成的。基于来自位图的位控制信号来控制通过测试器通道的波形信号的输出。
附图说明
并入本文并构成说明书一部分的附图示出了本公开的各方面,并且与描述一起进一步用于解释本公开的原理并使本领域技术人员能够制作和使用本公开的相关技术。
图1图示了用于控制由多个DUT复用的一个或多个测试器通道的示例性现有控制过程的示意图。
图2图示了根据本公开的一些方面的包括测试设备和多个DUT的示例性测试环境的框图。
图3图示了根据本公开的一些方面的图2的测试设备中的示例性模式(pattern)生成系统的框图。
图4A图示了根据本公开的一些方面的在图2的测试设备中具有波形驱动装置的示例性测试器通道的框图。
图4B图示了根据本公开的一些方面的在图2的测试设备中具有波形驱动装置的另一个示例性测试器通道的框图。
图5图示了根据本公开的一些方面的用于控制由多个DUT复用的一个或多个测试器通道的示例性控制过程的示意图。
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