[发明专利]用于自动波形分析的方法和系统

说明书

本公开描述一种用于分析由集成电路产生的信号波形的方法。该方法包括确定控制信号的特征点，并且每个特征点包括对应的时间值并表示控制信号的边沿变化。该方法还包括确定数据采样点集合。每个数据采样点集合位于特征点的相邻特征点之间。该方法还包括获得信号波形的数据值，并且在数据采样点集合中的数据采样点处获得信号波形的数据值。该方法还包括获得参考波形的数据值，并且在数据采样点处获得参考波形的数据值。该方法还包括确定信号波形的数据值与参考波形的数据值之间的差。

技术领域

本公开总体上涉及用于分析集成电路的方法和系统。

背景技术

随着半导体技术的进步，对于更高的存储容量、更快的处理系统、更高的性能和更低的成本的需求日益增加。为了满足这些需求，半导体工业不断按比例缩小半导体器件的尺寸。对半导体器件的电路设计进行电路分析，以确保集成电路满足预定的规范。电路分析的一个示例是模拟电路操作条件并分析所得到的数字信号。随着电路变得更加复杂和规模变得更大，从数字信号收集的信号数据量增加。需要快速和准确地分析信号数据以获得必要的信息并及时地检测任何电路异常。

发明内容

在本公开中描述了用于模拟电源电路的方法和用于执行该方法的系统的实施例。

在一些实施例中，一种用于分析由集成电路产生的信号波形的方法包括确定控制信号的特征点。每个特征点包括对应的时间值，并且表示控制信号的边沿变化。该方法还包括确定数据采样点集合。每个数据采样点集合位于特征点的相邻特征点之间。该方法还包括获得信号波形的数据值，并且在数据采样点集合中的数据采样点处获得信号波形的数据值。该方法还包括获得参考波形的数据值，并且在数据采样点处获得参考波形的数据值。该方法还包括确定信号波形的数据值与参考波形的数据值之间的差。

在一些实施例中，一种用于分析由集成电路产生的信号波形的方法包括确定控制信号的特征点。每个特征点包括对应的时间值，并且表示控制信号的边沿变化。该方法还包括确定持续时间，其中每个持续时间在特征点的相应相邻特征点的相邻时间值之间。该方法还包括在第一持续时间中获得信号波形的第一多个数据值，以及在第一持续时间中获得参考波形的第一多个数据值。该方法还包括使用第一分析方法来确定信号波形的第一多个数据值与参考波形的第一多个数据值之间的第一差。该方法还包括在第二持续时间中获得信号波形的第二多个数据值，以及在第二持续时间中获得参考波形的第二多个数据值。该方法还包括使用不同于第一分析方法的第二分析方法来确定信号波形的第二多个数据值与参考波形的第二多个数据值之间的第二差。该方法还包括将第一差或第二差与阈值容差值进行比较。

在一些实施例中，一种非暂时性计算机可读介质包含计算机可执行程序，所述计算机可执行程序用于在由处理器执行时实施用于分析由集成电路产生的信号波形的方法，包括确定控制信号的特征点。每个特征点包括对应的时间值，并且表示控制信号的边沿变化。该方法还包括确定数据采样点集合。每个数据采样点集合位于特征点的相邻特征点之间。该方法还包括获得信号波形的数据值，并且在数据采样点集合中的数据采样点处获得信号波形的数据值。该方法还包括获得参考波形的数据值，并且在数据采样点处获得参考波形的数据值。该方法还包括确定信号波形的数据值与参考波形的数据值之间的差。