[实用新型]TVS器件电性检测装置

说明书

本实用新型公开一种TVS器件电性检测装置，其一支架的底部安装于基板上并位于圆盘外侧，支架的上部延伸至圆盘上方并安装有探测仪，圆盘上沿周向间隔设置有若干个安装座，圆盘的外圆周面下部具有沿全周向分布的齿槽，圆盘外侧可转动地安装有一与齿槽啮合的齿轮，圆盘上表面上开设有若干个与安装座对应的条形槽，每个条形槽内转动安装有一沿圆盘径向延伸的丝杆，丝杆的一端与条形槽一端内壁转动连接，丝杆的另一端自圆盘的圆周面上向外伸出，丝杆上并位于条形槽内螺纹套装有一滑动块，安装座对应地安装于滑动块上。本实用新型对安装座的位置进行微调，从而提高了测试的精度和准确性。

技术领域

本实用新型涉及半导体器件测试技术领域，尤其涉及一种TVS器件电性检测装置。

背景技术

半导体器件是导电性介于良导电体与绝缘体之间，利用半导体材料特殊电特性来完成特定功能的电子器件，可以用来产生、控制、接收、变换、放大信号和进行能量交换。为了确保产品性能合格、稳定可靠，因此需要对半导体器件进行检测。但是，目前在测试过程中，存在器件位置精度不足导致检测失败的情况，严重影响了生产效率。

发明内容

本实用新型的目的是提供一种TVS器件电性检测装置，该TVS器件电性检测装置可以在安装座随着圆盘转动至探测仪下方后，保证待测试器件位于探测仪的正下方，从而提高测试的精度和准确性。

为达到上述目的，本实用新型采用的技术方案是：一种TVS器件电性检测装置，包括：基板、可转动地安装于基板上方的圆盘和设置于圆盘正上方的探测仪，一支架的底部安装于基板上并位于圆盘外侧，支架的上部延伸至圆盘上方并安装有探测仪，圆盘上沿周向间隔设置有若干个安装座，圆盘的外圆周面下部具有沿全周向分布的齿槽，圆盘外侧可转动地安装有一与齿槽啮合的齿轮；

圆盘上表面上开设有若干个与安装座对应的条形槽，每个条形槽内转动安装有一沿圆盘径向延伸的丝杆，丝杆的一端与条形槽一端内壁转动连接，丝杆的另一端自圆盘的圆周面上向外伸出，丝杆上并位于条形槽内螺纹套装有一滑动块，安装座对应地安装于滑动块上。

上述技术方案中进一步改进的方案如下：

1. 上述方案中，安装座进一步包括：内部开设有安装槽的座体和2个轴对称设置的夹持块，夹持块各自的水平部滑动安装于座体的安装槽内并通过一处于挤压状态的弹簧与安装槽内侧壁连接，夹持块各自的竖直部自开设于座体上表面并与安装槽连通的避位孔中向上伸出，从而在两个夹持块的竖直部之间形成一供器件嵌入的夹持区。

2. 上述方案中，夹持块的竖直部朝向夹持区的表面为弧形面。

3. 上述方案中，丝杆与圆盘之间通过轴承转动连接。

4. 上述方案中，条形槽沿圆盘的径向分布。

由于上述技术方案的运用，本实用新型与现有技术相比具有下列优点：

本实用新型TVS器件电性检测装置，其圆盘上表面上开设有若干个与安装座对应的条形槽，每个条形槽内转动安装有一沿圆盘径向延伸的丝杆，丝杆的一端与条形槽一端内壁转动连接，丝杆的另一端自圆盘的圆周面上向外伸出，丝杆上并位于条形槽内螺纹套装有一滑动块，安装座对应地安装于滑动块上，可以在安装座随着圆盘转动至探测仪下方后，通过旋转丝杆对安装座的位置进行微调使得装夹于安装座内的待测试器件位于探测仪的正下方，从而提高测试的精度和准确性。

附图说明

附图1是本实用新型的整体结构示意图；

附图2是本实用新型的局部结构剖面图。

以上附图中：1、基板；2、圆盘；3、探测仪；4、支架；5、安装座；51、座体；52、夹持块；6、齿轮；7、条形槽；8、丝杆；9、滑动块；10、弹簧。

具体实施方式