[实用新型]一种用于颗粒样品的自动研磨清洗装置有效
申请号: | 202123208110.1 | 申请日: | 2021-12-20 |
公开(公告)号: | CN217017590U | 公开(公告)日: | 2022-07-22 |
发明(设计)人: | 黄桂贤;曹心想;戴永;李担 | 申请(专利权)人: | 苏州德优博测新材料有限公司 |
主分类号: | B08B1/04 | 分类号: | B08B1/04;B02C19/20;B07B13/04;B07B13/18 |
代理公司: | 苏州博格华瑞知识产权代理事务所(普通合伙) 32558 | 代理人: | 张燕 |
地址: | 215000 江苏省苏州市工业园区*** | 国省代码: | 江苏;32 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 用于 颗粒 样品 自动 研磨 清洗 装置 | ||
本实用新型公开了一种用于颗粒样品的自动研磨清洗装置,包括:清洗机构以及与所述清洗机构连接的转动机构,转动机构包括基座以及设置在基座上平面的转轴,转轴轴线与基座垂直,且转轴与基座转动连接,转轴侧壁开设有出液孔,转轴远离基座的一端连接有管道,出液孔与管道连通;清洗机构包括若干柔性材质制成的刮片,若干刮片在转轴四周规律排布,刮片上密集开设有清洗孔,清洗孔孔径不小于颗粒样品直径,刮片上还规律设置有凸块,凸块与清洗孔一一对应设置,本实用新型通过在将颗粒样品浸没在液体中,并通过转动使颗粒样品通过刮片上的清洗孔从而实现研磨清洗,本实用新型中刮片不间断转动包装了颗粒样品较高的清洗效率。
技术领域
本实用新型涉及颗粒样品处理装置,尤其涉及一种用于颗粒样品的自动研磨清洗装置。
背景技术
目前,在工业生产及科研领域的样品采集工作中,采样方法是以数理统计学和概率论为理论基础建立起来的,经常使用随机采样和记数采样的方法,不同行业分析对象是各不相同的,一般来说采样误差常大于分析误差,因此采样的环节非常重要,如果采样不准确,即使分析做的非常仔细和正确,也是毫无意义的,现有技术中,样品在被采集后一般还需要进行初步处理,比如清洗、干燥,这一阶段对样品的品质保证至关重要,如果处理不好会给生产科研带来很严重的后果。
当下的颗粒样品清洗大多采用气体筛选清洗,其清洗效果更多的偏向于筛除大颗粒杂质,而少数液体清洗也仅仅能够提供冲刷的效果,无法实现在液体中研磨清洗。
发明内容
本实用新型克服了现有技术的不足,提供一种用于颗粒样品的自动研磨清洗装置。
为达到上述目的,本实用新型采用的技术方案为:一种用于颗粒样品的自动研磨清洗装置,包括:清洗机构以及与所述清洗机构连接的转动机构,其特征在于:所述转动机构包括基座以及设置在所述基座上平面的转轴,所述转轴轴线与所述基座垂直,且所述转轴与所述基座转动连接,所述转轴侧壁开设有出液孔,所述转轴远离所述基座的一端连接有管道,所述出液孔与所述管道连通;所述清洗机构包括若干柔性材质制成的刮片,若干所述刮片在所述转轴四周规律排布,所述刮片上密集开设有清洗孔,所述清洗孔孔径不小于颗粒样品直径,所述刮片上还规律设置有凸块,所述凸块与所述清洗孔一一对应设置。
本实用新型一个较佳实施例中,所述基座上平面上开设有滑槽,若干所述滑槽自所述转轴位置向所述基座外环扩散,且若干所述滑槽等间距圆周分布。
本实用新型一个较佳实施例中,所述刮片底部远离所述转轴一段连接有滑块,所述滑块嵌入所述滑槽内且能够在所述滑槽路径内滑动。
本实用新型一个较佳实施例中,所述滑槽在所述基座外环位置设置有限位块。
本实用新型一个较佳实施例中,所述凸块环状设置在对应的所述清洗孔周围。
本实用新型一个较佳实施例中,所述清洗孔孔内部设置有刮条。
本实用新型一个较佳实施例中,所述刮条采用合成纤维线。
本实用新型一个较佳实施例中,所述刮片采用橡胶材质。
本实用新型解决了背景技术中存在的缺陷,本实用新型具备以下有益效果:
(1)本实用新型通过设置规律排布的若干刮片,且使刮片在容器内不断转动,使得在容器内的颗粒样品能够不间断的经过刮片,并且刮片上开设有孔径与颗粒样品相配的清洗孔,使得颗粒样品能够通过清洗孔被研磨清洗,并且操作者能够通过设置清洗孔孔径大小,从而对研磨的精细度进行控制。
(2)本实用新型中在清洗孔外环位置设置有凸块,一方面凸块能够使得颗粒样品在通过刮片表面时,被凸块撞击摩擦,从而对颗粒样品起到高强度的清洗效果,另一方面环状的凸块也能够起到导向的作用,使得颗粒样品能够更为顺利的进入并通过清洗孔,防止在过高的转速下颗粒样品直接从刮片表面通过,提高从清洗孔通过的通过率。
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