[实用新型]一种集成电路测试系统测试板拆卸装置

说明书

本实用新型涉及集成电路测试系统测试板拆卸的工具，具体公开了一种集成电路测试系统测试板拆卸装置，该装置包括：上U形框、下U形框和折叠连杆；所述上U形框和下U形框的内框与测试母板插槽间距相匹配，上U形框和下U形框均具有两条平行的侧边和链接两条侧边的一条端边；所述折叠连杆包括铰接的上支杆和下支杆；所述上U形框和下U形框上下相对平行设置，两侧设置有折叠连杆；所述折叠连杆的两端分别与上U形框和上U形框的侧边铰接；所述折叠连杆中的至少一个的下支杆向上伸长，构成升降摇杆。本实用新型提供的拆卸装置不需要直接接触测试板，也不会造成测试板倾斜插拔，有效保护了测试板，并且使用简单，操作方便。

技术领域

本实用新型涉及集成电路测试系统测试板拆卸的工具，特别是涉及一种集成电路测试系统测试板拆卸装置。

背景技术

拟集成电路测试系统在元器件筛选中应用广泛，多年来，随着技术和制造工艺的不断更新迭代，元器件的种类也在不断增多，在进行元器件筛选测试时，所用到的测试板也随之增多。目前模拟集成电路测试系统测试板采用的为母板与子板组合的方式，根据不同的器件工作时调用母板上的不同资源制作相应的测试子板，测试母板与子板之间通过插槽与插针连通。因此，在测试不同元器件时，需要更换不同测试子板，在以往更换测试子板时，操作人员通常会用手直接取下测试子板，这种操作方法可能会因为拆卸时用力不均匀，导致测试板插针弯折，严重时还会损坏母板插槽，造成经济损失，拖延工作效率。

实用新型内容

针对现有技术的缺陷，本实用新型的目的在于提供一种集成电路测试系统测试板拆卸装置，旨在解决用手直接取下测试子板时，可能会因为拆卸时用力不均匀，导致测试板插针弯折，严重时还会损坏母板插槽，造成经济损失，拖延工作效率的问题。

为解决上述问题，本实用新型提供了一种集成电路测试系统测试板拆卸装置，它包括：上U形框、下U形框和折叠连杆；

所述上U形框和下U形框的内框与测试母板插槽间距相匹配，上U形框和下U形框均具有两条平行的侧边和链接两条侧边的一条端边；

所述折叠连杆包括铰接的上支杆和下支杆；

所述上U形框和下U形框上下相对平行设置，两侧设置有折叠连杆；

所述折叠连杆的两端分别与上U形框和上U形框的侧边铰接。

优选的，折叠连杆中的至少一个的下支杆向上伸长，构成升降摇杆。

优选的，升降摇杆的上端部包有防滑涂层，用于增大操作的摩擦力。

优选的，上U形框、下U形框和折叠连杆铰接处均设置有销孔，并在销孔中穿有对应销轴。

优选的，折叠连杆在上U形框和下U形框的两侧对称布置。

优选的，上U形框和下U形框中的内框为少一条边的矩形。

优选的，上U形框和下U形框的U形口端的框切面为斜面。

优选的，拆卸装置由防静电塑料材质制成，用于保护测试板。

总体而言，本实用新型的技术方案与现有技术相比，用于取得下列有益效果：

本实用新型提供的拆卸装置代替了原本直接用手更换测试板的方式，使得在测试过程中更换测试板子板时，不会因为受力不均匀导致测试板插针损坏，有效保护了测试板，且该装置具有使用方便、操作简单、耐用的特点。

附图说明

图1为本实用新型实施例的结构示意图；

附图中标记为：上U形框1，下U形框2，折叠连杆3，升降摇杆4。

具体实施方式