[实用新型]便于定位的快换型测试基台

说明书

便于定位的快换型测试基台。涉及半导体测试设备技术领域，具体涉及对视觉检测用测试基板的改进。包括测试基板，所述测试基板为方形，所述测试基板的上表面设有若干规则的容置孔，还包括一个定位块，所述定位块用于安装在视觉检测设备的工作台上；在所述测试基板的下底面还设有插槽，所述插槽与所述定位块适配。所述定位块的横截面为方形、T字形或燕尾形。所述定位块的轴向长度小于所述测试基板的长度。本实用新型在更换不同的测试基板时，只需要与定位块进行插拔就可以实现，无需拆卸螺栓，既能准确的定位测试基板，又能提高视觉检测的工作效率。

技术领域

本实用新型涉及半导体测试设备技术领域，具体涉及对视觉检测用测试基板的改进。

背景技术

为了保障整流桥等半导体产品的出厂质量能达到预定的质量标准，需要对此类半导体产品进行一系列的质量检验，包括外观、规格、性能参数试验、耐压试验、机械性能、盐雾试验与标志等。通常采用目视检测的手段对外观和标志的品质判断，为了提高检测效率和检测准确率，现在都是利用视觉检测来代替人工目测的。视觉检测是指通过机器视觉产品（图像摄取装置）将被摄取目标转换成图像信号，传送给专用的图像处理系统，根据像素分布和亮度、颜色等信息，转变成数字信号，图像系统对这些信号进行处理，得出检测结果。

而此类半导体体型较小，每一批次的生产数量又大，通常都是将若干个待检的半导体产品预先铺设在测试基板上，再将测试基板通过螺栓固定在视觉检测设备的工作台上以达到对准图像摄取装置的目的。但是用螺栓固定测试基板，存在拆卸耗时长，拆装测试基板的时间多过视觉检测的时间，大大的影响了视觉检测的效率。

实用新型内容

本实用新型针对以上问题，提供了一种结构简单，能够满足快速更换测试基板，提高半导体产品视觉检测效率的快换型测试基台。

本实用新型的技术方案是：便于定位的快换型测试基台，包括测试基板，所述测试基板为方形，所述测试基板的上表面设有若干规则的容置孔，还包括一个定位块，所述定位块用于安装在视觉检测设备的工作台上；

在所述测试基板的下底面还设有插槽，所述插槽与所述定位块适配。

所述定位块的横截面为方形、T字形或燕尾形。

所述定位块的轴向长度小于所述测试基板的长度 。

所述定位块的轴向长度与所述测试基板的长度一致，所述插槽贯穿所述测试基板；

在所述定位块的径向侧面开设有至少一个定位孔，在所述测试基板对应所述定位孔的位置开设有贯穿孔；

所述定位孔和所述贯穿孔的孔径一致，所述定位孔和所述贯穿孔用于插销限位。

所述贯穿孔的任一端设有内螺纹，所述插销的头端设有与所述内螺纹适配的外螺纹。

本实用新型包括定位块和测试基板，将定位块固定安装在视觉检测设备的工作台上，用于定位测试基板的位置。每次进行检测时，只需要将测试基板上的插槽投入定位块，就可以把测试基板准确的放置在工作台上，使得图像摄取装置能全范围检测。

本实用新型在更换不同的测试基板时，只需要与定位块进行插拔就可以实现，无需拆卸螺栓，既能准确的定位测试基板，又能提高视觉检测的工作效率。

附图说明

图1是本实用新型的立体示意图，

图2是本实用新型的结构示意图，

图3是本实用新型的另一实施例的结构示意图，

图4是图3中A-A的剖视图，

图5是本实用新型中测试基板的结构示意图，

图6是图5的左视图，

图7是本实用新型中定位块的结构示意图，