[实用新型]测试夹具及测试装置有效
| 申请号: | 202122973438.6 | 申请日: | 2021-11-30 |
| 公开(公告)号: | CN216956105U | 公开(公告)日: | 2022-07-12 |
| 发明(设计)人: | 陈东翼;邢鹏飞;王东海;薛丁元 | 申请(专利权)人: | 北京华峰测控技术股份有限公司 |
| 主分类号: | G01R1/04 | 分类号: | G01R1/04;G01R31/26;G01R27/08 |
| 代理公司: | 北京华进京联知识产权代理有限公司 11606 | 代理人: | 袁榕 |
| 地址: | 100071 北京*** | 国省代码: | 北京;11 |
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| 摘要: | |||
| 搜索关键词: | 测试 夹具 装置 | ||
本实用新型涉及一种测试夹具及测试装置,涉及功率半导体测试技术领域。该测试夹具,包括安装座和连接件,其用于将待测件相对所述测试平台电连接。在使用时,连接件连接于安装座,且一端用于与待测件电连接,另一端用于与测试平台电连接。其中,测试平台上设置有电流表和电压表;连接件包括至少四个两两相邻且间隔设置的引脚,其中两个引脚用于连接待测件的一端连为一体,另外两个引脚用于连接待测件的一端分离。相较于用常用的测试夹具测得的接触电阻,使用本申请中的测试夹具测得的接触电阻值不包含其他附加电阻值,从而提高了所测得的接触电阻的精度。
技术领域
本实用新型涉及功率半导体测试技术领域,特别是涉及一种测试夹具及测试装置。
背景技术
随着功率半导体在新能源领域里的广泛应用,行业里对功率半导体的可靠性提出了更高的要求。目前,常对功率半导体进行热阻测试以检测功率半导体的可靠性。在传统技术中,常将功率半导体安装在具有开尔文测试功能的夹具上,再将其与测量平台连接以进行检测。为了保证检测的准确性和安全性,需要测试夹具与功率半导体之间的接触电阻,但在使用目前常用的夹具测得的接触电阻中,会存在某些附加电阻值,从而使测得的接触电阻值的精度较低。
实用新型内容
基于此,有必要针对测得的接触电阻值精度较低的问题,提供一种测试夹具。
一种测试夹具,用于连接于待测件与测试平台之间,所述测试平台上设置有电流表和电压表;所述测试夹具包括安装座和连接件。其中,连接件连接于所述安装座,且一端用于与所述待测件电连接,另一端用于与测试平台电连接;所述连接件包括至少四个引脚,至少四个所述引脚两两相邻且间隔设置,其中两个所述引脚用于连接所述待测件的一端连为一体,且另一端分别用于与所述电流表的一端和所述电压表的一端电连接;另外两个所述引脚用于连接所述待测件的一端分离,且另一端分别用于连接所述电流表的另一端和所述电压表的另一端。
在其中一个实施例中,以一端连为一体的两个所述引脚为第一组引脚,以分离的两个所述引脚为第二组引脚;所述第一组引脚朝向所述待测件的一端和所述第二组引脚朝向所述待测件的一端具有互相抵接的运动趋势。
在其中一个实施例中,所述第一组引脚朝向待测件的延伸段与所述第二组引脚朝向所述待测件的延伸段之间构造有扩口。
在其中一个实施例中,所述第一组引脚朝向待测件的延伸段与所述第二组引脚朝向所述待测件的延伸段均构造有斜面,两个所述斜面沿朝向所述待测件的方向逐渐远离以围设成所述扩口。
在其中一个实施例中,所述第一组引脚中的两个所述引脚一体成型;和/或,所述第一组引脚朝向所述待测件的一端与所述第二组引脚朝向所述待测件的一端之间的间距在0~5mm之间。
在其中一个实施例中,所述安装座的一端构造有插接腔,所述连接件的一端伸入所述插接腔,所述连接件的另一端凸出于所述安装座背离所述插接腔的一端。
在其中一个实施例中,所述连接件的数量为多个,多个所述连接件间隔布置于所述安装座,且每个所述连接件对应一个所述插接腔。
本实用新型还提供一种测试装置,能够解决上述的至少一个技术问题。
一种测试装置,用于对待测件进行性能检测,包括测试平台和上述测试夹具,所述测试夹具将待测件相对所述测试平台电连接。
在其中一个实施例中,所述测试平台上设置有电流表,所述电流表的一端与所述测试夹具中第一组引脚中的一个所述引脚连接,所述电流表的另一端与所述测试夹具中第二组引脚中的一个所述引脚连接。
在其中一个实施例中,所述测试平台上设置有电压表,所述电压表的一端与所述测试夹具中第一组引脚中的另一个所述引脚连接,所述电压表的另一端与所述测试夹具中第二组引脚中的另一个所述引脚连接。
本实用新型的有益效果:
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