[实用新型]一种同轴检测光源

说明书

本实用新型公开了一种同轴检测光源，包括光源外壳，所述光源外壳的底部设有出光口，所述光源外壳的顶部设有拍摄窗口，所述拍摄窗口对准于所述出光口设置；所述光源外壳的侧面设有灯板，沿所述灯板的出光路径设有分光镜，所述分光镜倾斜于所述出光路径设置，使所述灯板的出射光线经所述分光镜反射，形成射入所述出光口的第一反射光线；所述同轴检测光源还包括：第一消光面，所述灯板的出射光线经所述分光镜折射，形成射入所述第一消光面的折射光线。本实用新型通过在同轴光源中设置第一消光面，使得经过分光镜折射后的光线得以消除，避免形成干扰光线，有利于确保照射至被测表面上光线的均匀性，从而提高了缺陷检测的准确性。

技术领域

本实用新型涉及机器视觉技术领域，尤其涉及一种同轴检测光源。

背景技术

为了确保产品的生产质量，在生产过程中需要对其进行缺陷检测，而机器视觉检测则是现如今应用得最广泛的检测技术，机器视觉检测是一种利用机器代替人眼以实现检测的方法，其结合了光学、机械及计算机等多个领域的技术，具有比人眼更准确的检测效果。

在进行机器视觉检测时，利用光源照射于待检测的产品表面，再通过摄像头拍摄成像，最后在计算机中进行处理分析，以获得缺陷特征，其中，同轴光源具有更均匀的照射效果，成为视觉检测系统中最常用的光源之一。同轴光源包括用于发射平行光的灯板，以及设置于灯板出光路径上的分光片，利用分光片反射至待检测的产品表面。由于分光镜为半透半反镜，其中有部分光线未能反射至待检测产品上，这部分光线可能会造成对检测的干扰，影响了检测结果的准确性。

实用新型内容

针对现有技术的不足，本实用新型提供一种，解决现有技术中同轴光源存在干扰光线，会造成对检测的干扰，影响检测结果准确性的问题。

为实现上述目的，本实用新型提供以下的技术方案：

一种同轴检测光源，包括光源外壳，所述光源外壳的底部设有出光口，所述光源外壳的顶部设有拍摄窗口，所述拍摄窗口对准于所述出光口设置；

所述光源外壳的侧面设有灯板，沿所述灯板的出光路径设有分光镜，所述分光镜倾斜于所述出光路径设置，使所述灯板的出射光线经所述分光镜反射，形成射入所述出光口的第一反射光线；

所述同轴检测光源还包括：

第一消光面，所述灯板的出射光线经所述分光镜折射，形成射入所述第一消光面的折射光线。

可选地，所述的同轴检测光源，还包括：

第二消光面，所述折射光线经所述第一消光面的反射后，形成射入所述第二消光面的第二反射光线。

可选地，所述第一消光面和所述第二消光面的表面均涂覆有消光漆。

可选地，所述第一消光面和所述第二消光面的表面均设有消光结构层。

可选地，所述消光结构层为颗粒层。

可选地，所述颗粒层具有均匀分布的炭黑颗粒。

可选地，所述消光结构层为螺纹层，所述螺纹层具有均匀分布的消光螺纹。

可选地，所述消光螺纹为锥形螺纹。

可选地，所述第一消光面平行于所述分光镜设置。

可选地，所述分光镜和所述第一消光面，与所述灯板的出光路径之间的夹角均为45°；

所述第二消光面与所述第一消光面之间的夹角为45°。

与现有技术相比，本实用新型具有以下有益效果：

本实用新型提供了一种同轴检测光源，通过在同轴光源中设置第一消光面，使得经过分光镜折射后的光线得以消除，避免形成干扰光线，有利于确保照射至被测表面上光线的均匀性，从而提高了缺陷检测的准确性。