[实用新型]一种点灯装置

说明书

本实用新型涉及显示面板测试技术领域，公开一种点灯装置，包括电路板。该电路板能够相对显示面板移动，以实现电路板与显示面板的邦定区电连接。电路板上设置有检测区，检测区上设置有检测探针，检测探针包括探针本体和设置于探针本体上的探针凸起，探针凸起由铜层和镀金层组成，镀金层能够抵接于邦定区。通过除去探针凸起中的镍层，以降低其电阻，增强导电性能，从而避免因测试电流过大而导致检测探针损坏这一情况，有效保证生产效率，降低生产成本。

技术领域

本实用新型涉及显示面板测试技术领域，尤其涉及一种点灯装置。

背景技术

现有的显示屏在进行后续组装之前，需要进行点灯检查，显示面板会根据点灯治具提供的测试信号显示不同的画面，以此判断显示面板是否存在不良，避免完全组装后拆卸困难以及容易损伤部件等问题。在进行点灯测试时，点灯装置内置的检测探针将与显示面板的邦定区在预设位置接触，以实现检测探针与邦定区的电连通，使点灯装置提供的电流可通过检测探针传导至显示面板。但是，现有技术仍存在以下缺陷：在测试过程中，若检测探针的导电性能不佳，则在测试电流过大时，很可能造成显示面板的烧损，影响测试效率，增加生产成本。

实用新型内容

本实用新型的目的在于提供一种点灯装置，以避免在进行点灯测试时，因测试电流过大而导致显示面板损坏这一情况，有效保证测试效率，降低生产成本。

如上构思，本实用新型所采用的技术方案是：

提供一种点灯装置，包括能够与显示面板的邦定区电连接的电路板，所述电路板上设置有检测区，所述检测区上设置有检测探针，所述检测探针包括探针本体和设置于所述探针本体上的探针凸起，所述探针凸起由铜层和镀金层组成，所述镀金层能够抵接于所述邦定区。

作为点灯装置的一种优选方案，所述探针本体包括相连接的第一探针本体和第二探针本体，所述第一探针本体和所述第二探针本体在平行于所述电路板所在平面的横截面均为矩形，且所述第一探针本体的宽度为a，所述第二探针本体的宽度小于a，a的取值范围为995～1005μm。

作为点灯装置的一种优选方案，所述探针凸起设置于所述第一探针本体上，所述探针凸起在平行于所述电路板所在平面的横截面为矩形，且所述探针凸起在所述第一探针本体宽度方向的宽度为b，b的取值范围为835～845μm，所述探针凸起在垂直于所述第一探针本体长度方向的长度为c，c的取值范围为995～1005μm。

作为点灯装置的一种优选方案，沿所述第一探针本体的宽度方向，所述探针凸起于所述第一探针本体上居中设置。

作为点灯装置的一种优选方案，沿垂直于所述电路板所在平面的方向，所述镀金层的厚度为45～55nm，所述铜层的厚度为3.9～4.1μm。

作为点灯装置的一种优选方案，所述检测区上设置有多个所述检测探针，多个所述检测探针在垂直于所述探针本体的长度方向间隔设置。

作为点灯装置的一种优选方案，能够与所述探针凸起抵接的所述邦定区上设置有多个检测位置，多个所述检测位置间隔设置。

作为点灯装置的一种优选方案，所述检测位置包括靠近所述探针凸起设置的抵接部，所述探针凸起能够抵接于所述抵接部。

作为点灯装置的一种优选方案，每个所述检测探针上均设置有一个所述探针凸起，多个所述探针凸起在垂直于所述探针本体的长度方向和多个所述抵接部一一对应设置。

作为点灯装置的一种优选方案，所述抵接部在平行于所述电路板所在平面的横截面为矩形，所述矩形的长度大于所述探针凸起的长度，所述矩形的宽度大于所述探针凸起的宽度。

本实用新型的有益效果为：