[实用新型]一种集成电路测试设备

权利要求书

1.一种集成电路测试设备，其特征在于，包括底板、除湿箱和限位组件；

所述底板顶部设置有除湿箱，所述除湿箱顶部设置有保护箱，所述保护箱正面通过铰链转动连接有箱门，所述底板底部设置有多个万向轮，所述保护箱内部设置有集成电路测试仪；

所述底板底部设置有限位组件，用于对所述万向轮进行限位。

2.根据权利要求1所述的集成电路测试设备，其特征在于，所述限位组件包括有固定板、螺纹孔、螺纹杆和限位板，所述底板底部设置有固定板，所述固定板一侧开设有螺纹孔，所述螺纹孔内部螺纹连接有螺纹杆，所述螺纹杆一端设置有转动块，所述螺纹杆另一端设置有限位板。

3.根据权利要求1所述的集成电路测试设备，其特征在于，所述除湿箱内部设置有分离板，所述除湿箱内部通过分离板分离成进气腔和除湿腔，所述进气腔内部设置有电机，所述电机一侧驱动连接有吹风机，所述除湿腔内部设置有除湿盒，所述除湿盒顶部和底部均开设有多个透气孔，所述除湿盒内部填充有硅胶颗粒。

4.根据权利要求3所述的集成电路测试设备，其特征在于，所述除湿箱顶部开设有进气口和出气口，所述进气口分别与进气腔和保护箱内部相贯通，所述出气口分别与除湿腔和保护箱内部相贯通，所述分离板一侧循环口，所述进气腔通过循环口与除湿腔相贯通。

5.根据权利要求1所述的集成电路测试设备，其特征在于，所述保护箱内部设置有放置板，所述放置板呈“U”状，所述集成电路测试仪位于放置板顶部，所述放置板顶部开设有通气口。

6.根据权利要求1所述的集成电路测试设备，其特征在于，所述集成电路测试仪正面通过铰链转动连接有活动门。