[实用新型]一种检测电路、MCU自动化设备及BMS自动化设备

说明书

本实用新型公开一种检测电路、MCU自动化设备及BMS自动化设备，涉及芯片内Flash读速率检测技术领域。该检测电路的电源的输出端用于与目标芯片的电源输入端连接，给目标芯片供电；信号发生器的输出端用于与目标芯片的输入端连接，给目标芯片提供系统时钟；控制器的第一输出端与信号发生器的输入端连接，用于调整信号发生器所设置的频率；频率计用于与目标芯片的输出端连接，读取目标芯片的工作信号，输出相应的频率计数值。使用信号发生器给被测目标芯片提供时钟，使用频率计检测目标芯片是否正常运行，控制器不断提高信号发生器的频率，直到目标芯片无法运行时，即可根据该频率得出Flash的最大读取速度。

技术领域

本实用新型涉及芯片内Flash读速率检测技术领域，尤其涉及一种检测电路、MCU自动化设备及BMS自动化设备。

背景技术

处理器从Flash读取指令执行程序时，高性能内核的运行速度比Flash读取速度快，因此当系统主频超过一定数值时，需插入等待周期，否则无法准确读取Flash的指令，导致运行错误。

(1)对于Flash的极限读写速度精度低并且依赖于输入的时钟信号。

(2)无法获取处理器和Flash处于高频工作状态下的读速率。

实用新型内容

针对现有技术存在的不足，本实用新型的目的是至少解决其中的一个技术问题。

根据本实用新型的第一个方面，提供了一种Flash读速率检测电路，用于测试目标芯片内Flash读速率，包括电源、信号发生器、控制器和频率计；

电源的输出端与目标芯片的电源输入端连接，用于给目标芯片供电；

信号发生器的输出端与目标芯片的输入端连接，用于将设置的频率给目标芯片提供系统时钟；

控制器的第一输出端与信号发生器的输入端连接，控制器用于调整信号发生器所设置的频率；

频率计用于与目标芯片的输出端连接，读取目标芯片的工作信号，输出相应的频率计数值。

本实用新型的检测电路，使用信号发生器给被测目标芯片提供时钟，使用频率计检测目标芯片是否正常运行，控制器不断提高信号发生器的频率，直到目标芯片无法运行时，即可根据该频率得出Flash的最大读取速度。

根据本实用新型的第二个方面，提供了一种MCU自动化设备，包括MCU芯片与上述的检测电路，检测电路用于检测MCU芯片内Flash读速率。

在一些实施方式中，MCU芯片包括第一处理器及与第一处理器连接的第一Flash模块，第一处理器的电源输入端与电源连接，第一处理器的输入端与信号发生器的输出端连接，第一处理器的输出端与频率计连接。

在一些实施方式中，第一Flash模块设置为0个等待周期、预取使能。

在一些实施方式中，当频率计显示的信号异常时，即MCU芯片无法正常运行，记录上一个对应频率计显示的信号正常时的信号发生器的频率为MCU芯片内Flash的最大读速率。

在一些实施方式中，频率计显示的信号异常表现为频率计显示的信号为0。

在一些实施方式中，第一Flash模块设置为n个等待周期、预取使能，其中，n为正整数。

在一些实施方式中，当频率计显示的信号异常时，即MCU芯片无法正常运行，记录上一个对应频率计显示的信号正常时的信号发生器的频率，信号发生器的频率为所述设置的等待周期下的最大工作频率。

在一些实施方式中，频率计显示的信号异常表现为频率计显示的信号为0。

在一些实施方式中，可以测得不同等待周期的MCU芯片内Flash的读速率范围。