[实用新型]一种两轴研磨抛光机用废料收集装置有效

专利信息
申请号: 202122076742.0 申请日: 2021-08-31
公开(公告)号: CN215510589U 公开(公告)日: 2022-01-14
发明(设计)人: 孙建坤;李睿;资彦玮;王石坤 申请(专利权)人: 云南国光光电技术有限公司
主分类号: B24B55/06 分类号: B24B55/06;B24B55/12;B01D46/12
代理公司: 暂无信息 代理人: 暂无信息
地址: 650114 云南省昆明市西*** 国省代码: 云南;53
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摘要:
搜索关键词: 一种 研磨 抛光机 废料 收集 装置
【说明书】:

实用新型公开了一种两轴研磨抛光机用废料收集装置,涉及氟化镁及其相关加工设备技术领域。本实用新型包括聚风罩,聚风罩的上表面一侧连接的第二连接管的上端设置有伸缩组件,伸缩组件包含有伸缩管和弹簧,第一连接管的下端面连接有收集箱,收集箱的内部从上到下依次设置有第二回形框、第一回形框和U形框,第二回形框的下表面连接有第二过滤板,第一回形框的下表面连接有第一过滤板。本实用新型通过设置伸缩组件、第二过滤板和第一过滤板结构,伸缩组件的存在,使得聚风罩随着抛光组件的移动而移动,进而使得氟化镁废料最大程度进入收集箱的内部,第二过滤板和第一过滤板的存在,使得该装置对收集箱内部的氟化镁废料进行分类存放。

技术领域

本实用新型属于氟化镁及其相关加工设备技术领域,特别是涉及一种两轴研磨抛光机用废料收集装置。

背景技术

由于氟化镁既具有好的光学性能,以保证红外探测的质量,又能在恶劣环境中工作,经受导弹高速飞行时的气动冲击及由气动冲击加热带来的热冲击和风沙雨雪、酸碱、海水等的机械和化学侵蚀等,保护导弹内部的光学系统、传感器等不被外界环境损伤,进而使得氟化镁是制作整流罩的必要材料之一。其中,人们在使用氟化镁进行整流罩加工制作时,需要操控两轴研磨抛光机对氟化镁进行抛光处理,而两轴研磨抛光机对氟化镁进行抛光时产生的废料进入收集箱的内部,但它在实际使用中仍存在以下弊端:

1、现有的两轴研磨抛光机用废料收集装置的位置固定,导致,现有的两轴研磨抛光机用废料收集装置,无法随着两轴研磨抛光机上的抛光组件进行移动,进而无法保证氟化镁废料最大程度进入现有的两轴研磨抛光机用废料收集装置的内部,进而降低了现有的两轴研磨抛光机用废料收集装置收集氟化镁废料的效果;

2、现有的两轴研磨抛光机用废料收集装置的构造单一,只能够对氟化镁废料进行单一的收集,而无法对收集的氟化镁废料进行分类存放,进而给人们后期对废料进行研磨加工带来不便。

因此,现有的两轴研磨抛光机用废料收集装置,无法满足实际使用中的需求,所以市面上迫切需要能改进的技术,以解决上述问题。

实用新型内容

本实用新型的目的在于提供一种两轴研磨抛光机用废料收集装置,通过设置伸缩组件、第二过滤板和第一过滤板结构,解决了现有的两轴研磨抛光机用废料收集装置收集废料的效果不佳,以及对收集的废料进行分类的问题。

为解决上述技术问题,本实用新型是通过以下技术方案实现的:

本实用新型为一种两轴研磨抛光机用废料收集装置,包括聚风罩,聚风罩的上表面一侧连接的第二连接管的上端设置有伸缩组件,伸缩组件包含有伸缩管和弹簧,伸缩管的圆周面上套设的弹簧的左右两表面均与伸缩管两端连接的圆环的内表面抵触连接,伸缩管远离第二连接管的一端连接有第一连接管,第一连接管的下端面连接有收集箱,收集箱的内部从上到下依次设置有第二回形框、第一回形框和U形框,第二回形框的下表面连接有第二过滤板,第一回形框的下表面连接有第一过滤板。

进一步地,聚风罩的上表面贯穿设置有连接组件,聚风罩的上表面中部开设有通孔本体,连接组件包含有圆形座和第二外螺纹轴,第二外螺纹轴的上端面连接有圆形座,第二外螺纹轴的圆周面贯穿通孔本体,第二外螺纹轴的圆周面上且位于聚风罩的上下两侧均螺纹连接有螺母,具体地,圆形座的存在,用于第二外螺纹轴和外界驱动组件之间的连接,螺母的存在,用来限定聚风罩的位置。

进一步地,第二外螺纹轴的下表面设置有抛光组件,第二外螺纹轴的下端面中部开设有内螺纹孔槽,抛光组件包含有抛光球和第一外螺纹轴,第一外螺纹轴的螺纹连接在内螺纹孔槽的内侧,第一外螺纹轴的下端面连接有抛光球,具体地,内螺纹孔槽的存在,使得第一外螺纹轴和第二外螺纹轴之间可拆式连接,抛光球的存在,对氟化镁进行抛光处理。

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