[实用新型]一种改进的射频前端组件测试工装

说明书

本实用新型公开了一种改进的射频前端组件测试工装，包括底座，所述底座的上方两侧对称设有凹槽，所述凹槽内均螺纹连接有接口机构，两个所述接口机构之间形成有用于螺纹连接待测试射频前端组件的卡槽，所述接口机构包括滑动连接在凹槽内的支架、以及螺纹固定在支架上的测试电缆组件，所述测试电缆组件包括用于连接外部测试设备的SMA连接器、用于连接射频前端组件的插针式接口的孔式连接器、以及连接在SMA连接器和孔式连接器之间的同轴电缆。本实用新型装配工艺简单，操作便捷，成本低，可以满足批量化生产的需求，并且可靠稳定，在各种环境条件下进行测试，满足了不同接口形式对测试工装的测试需求。

技术领域

本实用新型涉及射频前端组件测试技术领域，具体地来说，涉及一种改进的射频前端组件测试工装。

背景技术

射频前端组件在现代雷达如有源相控阵雷达领域中应用广泛，是构成有源相控阵雷达天线的基础，射频前端组件的性能指标尤其是电参数指标直接影响到雷达系统相应的整机指标。目前，基于射频前端组件的结构小型化与一致性的要求，射频前端组件越来越多地采用了SIP以及板卡级二次组装，其接口方式对射频前端组件的测试性设计提出了更苛刻的要求，同时为提高生产效率，对于测试的快捷性、方便性也提出了更高的要求。

现有的射频前端组件测试工装大多结构繁琐，装配复杂，且测试快捷性、方便性不佳，同时无法满足不同接口形式的射频前端组件的测试需求。

中国授权专利公告号CN204462378U，公告日2015年7月8日，公开一种微波收发组件测试工装，文中提出“包括底座、公共口支架、天线口支架、盖板、第一微波转接器、第二微波转接器、第三微波转接器，所述公共口支架固定于所述底座的第一侧，所述天线口支架固定于所述底座的第二侧，所述第一微波转接器通过所述公共口支架上设置的孔连接至所述微波收发组件的公共口，所述第二微波转接器和所述第三微波转接器分别通过所述天线口支架上设置的两个孔连接至所述微波收发组件的第一天线口和第二天线口”。该现有技术中的微波转接器的位置完全固定，测试的快捷性和方便性一般，同时也解决不了不同接口形式对测试工装的测试需求，尤其是插针形式的接口对测试工装的测试需求的技术问题。

实用新型内容

本实用新型的目的在于提供一种改进的射频前端组件测试工装，以解决上述背景技术中提出的现有测试工装，其测试的快捷性和方便性一般，同时也无法满足不同接口形式的射频前端组件的测试需求，尤其是插针形式的接口对测试工装的测试需求的技术问题。

为实现上述目的，本实用新型采取以下技术方案：

一种改进的射频前端组件测试工装，包括底座，所述底座的上方两侧对称设有凹槽，所述凹槽内均螺纹连接有接口机构，两个所述接口机构之间形成有卡槽，所述卡槽的四角均分别设置有螺纹孔Ⅳ，所述螺纹孔Ⅳ用于螺纹连接待测试射频前端组件，所述接口机构包括滑动连接在凹槽内的支架、以及螺纹固定在支架上的测试电缆组件，所述测试电缆组件包括用于连接外部测试设备的SMA连接器、用于连接射频前端组件的孔式连接器、以及连接在SMA连接器和孔式连接器之间的同轴电缆，所述孔式连接器配合射频前端组件的绝缘针使用，所述同轴电缆的两端端部分别与SMA连接器和孔式连接器电信号连通；所述凹槽的中间位置均分别左右对称设置有两个螺纹孔Ⅰ，所述支架上设置有螺纹孔Ⅰ相配合的通孔槽，所述通孔槽位于螺纹孔Ⅰ的正上方，所述通孔槽内分别穿设有螺钉Ⅰ，两个所述螺钉Ⅰ分别竖直穿过通孔槽连接至螺纹孔Ⅰ中，所述支架通过螺钉Ⅰ和通孔槽沿凹槽的长度方向滑移。