[实用新型]一种用于弹簧探针接触性检测装置

说明书

本实用新型公开了一种用于弹簧探针接触性检测装置，属于弹簧探针检测领域，一种用于弹簧探针接触性检测装置，包括底板，所述底板的顶部固定连接有直角板，所述底板的顶部设置有吸附组件，所述底板的底部设置有抵触组件，所述底板的顶部设置有探针本体，所述底板的顶部设置有复位组件，所述直角板的内部与外侧设置有检测观察组件，所述吸附组件包括运动块与磁石，所述运动块滑动连接至直角板的右侧，所述磁石固定连接至运动块的内部，所述探针本体的顶端与磁石磁性连接。该实用新型，可对探针的磨损情况进行检测，根据检测出的磨损情况来决定是否对其进行更换，减少探针浪费的现象发生，降低检测成本。

技术领域

本实用新型涉及弹簧探针检测领域，更具体地说，涉及一种用于弹簧探针接触性检测装置。

背景技术

探针是用于测试PCBA的一种测试针，表面镀金，内部有平均寿命3万～10万次的高性能弹簧，现有技术中，对芯片测试时都是使用全自动机台进行测试，通过弹簧探针压紧测试芯片的测试点。

由于芯片体积小，测试使用的弹簧探针规格小，而且集中在一起，经过上万次测试后，弹簧探针极易出现磨损氧化等问题，使其与测试芯片接触不良，造成芯片检测误判，一般都需要将整组弹簧探针进行更换，但现有的更换方式通常为定期更换，无法针对探针的磨损情况进行判断，从而易造成大量可用探针浪费的现象发生，提升了检测成本，为此我们推出了一种用于弹簧探针接触性检测装置来解决上述问题。

实用新型内容

针对现有技术中存在的问题，本实用新型的目的在于提供一种用于弹簧探针接触性检测装置，以解决现有的更换方式通常为定期更换，无法针对探针的磨损情况进行判断，从而易造成大量可用探针浪费的现象发生，提升了检测成本的问题。

为解决上述问题，本实用新型采用如下的技术方案。

一种用于弹簧探针接触性检测装置，包括底板，所述底板的顶部固定连接有直角板，所述底板的顶部设置有吸附组件，所述底板的底部设置有抵触组件，所述底板的顶部设置有探针本体，所述底板的顶部设置有复位组件，所述直角板的内部与外侧设置有检测观察组件。

作为上述技术方案的进一步描述：

所述吸附组件包括运动块与磁石，所述运动块滑动连接至直角板的右侧，所述磁石固定连接至运动块的内部，所述探针本体的顶端与磁石磁性连接。

作为上述技术方案的进一步描述：

所述抵触组件包括固定板、第一弹簧、第一滑动杆、与抵触块，所述固定板固定连接至运动块的顶部，所述第一滑动杆的底端贯穿并滑动连接至固定板的底部，所述第一弹簧套设至第一滑动杆的中部，所述第一弹簧固定连接至固定板的底部，所述第一滑动杆固定连接至抵触块的顶部，所述第一弹簧固定连接至抵触块的顶部，所述抵触块的外侧与探针本体接触。

作为上述技术方案的进一步描述：

所述复位组件包括第二滑动杆与第二弹簧，所述第二滑动杆的底端贯穿并滑动连接至直角板的外侧，所述第二弹簧套设至第二滑动杆的中部，所述第二弹簧的顶端固定连接至第二滑动杆的中部，所述第二弹簧固定连接至直角板的顶部，所述第二滑动杆固定连接至运动块的顶部。

作为上述技术方案的进一步描述：

所述检测观察组件包括移动杆与刻度表，所述移动杆固定连接至运动块的左侧，所述移动杆的左端贯穿并延伸至直角板的内部，所述刻度表喷涂至直角板的左侧。

作为上述技术方案的进一步描述：

所述运动块的内部开设有斜槽，所述磁石固定连接至斜槽的内部。

相比于现有技术，本实用新型的优点在于：