[实用新型]一种熔断器短时过载试验及测试装置有效

专利信息
申请号: 202121470127.1 申请日: 2021-06-30
公开(公告)号: CN215986384U 公开(公告)日: 2022-03-08
发明(设计)人: 熊焰明 申请(专利权)人: 江苏伊施德创新科技有限公司
主分类号: G01R31/327 分类号: G01R31/327
代理公司: 无锡盛阳专利商标事务所(普通合伙) 32227 代理人: 顾吉云
地址: 214028 江苏省*** 国省代码: 江苏;32
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摘要:
搜索关键词: 一种 熔断器 过载 试验 测试 装置
【权利要求书】:

1.一种熔断器短时过载试验及测试装置,其包括测试工位、加电试验工位和冷却工位,其特征在于:其还包括存储盒,所述存储盒中均匀开设有存储槽,所述存储槽大于一个,所述存储槽用于放置熔断器;

所述测试工位包括测试台、测试机构,所述测试台用于承载所述存储盒,所述测试机构包括上下驱动机构一和测试探针卡,所述上下驱动机构一和所述测试探针卡连接,所述测试探针卡上均匀安装有测试探针,所述测试探针的位置与所述存储槽的位置相对应;

所述加电试验工位包括试验台、加电机构,所述试验台用于承载所述存储盒,所述加电机构包括上下驱动机构二和加电探针卡,所述上下驱动机构二和所述加电探针卡连接,所述加电探针卡上均匀安装有加电探针,所述加电探针的位置与所述存储槽的位置相对应。

2.根据权利要求1所述的一种熔断器短时过载试验及测试装置,其特征在于:所述冷却工位包括排队冷却区,所述排队冷却区用于容纳大于一个的所述存储盒。

3.根据权利要求1所述的一种熔断器短时过载试验及测试装置,其特征在于:所述测试台和所述试验台上还分别安装有移动轨道,所述移动轨道一端位于所述测试探针卡/所述加电探针卡下方,所述移动轨道上设有定位基座,所述定位基座用于放置所述存储盒。

4.根据权利要求3所述的一种熔断器短时过载试验及测试装置,其特征在于:所述定位基座包括横向定位块一、横向定位块二、纵向定位块一和纵向定位块二,所述横向定位块一和所述横向定位块二之间的距离等于所述存储盒的长度,所述纵向定位块一和所述纵向定位块二之间的距离等于所述存储盒的宽度。

5.根据权利要求1-4任一所述的一种熔断器短时过载试验及测试装置,其特征在于:所述测试工位及所述试验工位分别设有读取装置,所述读取装置用于读取所述存储盒的信息;所述读取装置、所述测试机构和所述加电机构分别与控制器电控连接。

6.根据权利要求1所述的一种熔断器短时过载试验及测试装置,其特征在于:每个所述熔断器的一个电极的位置与两根所述测试探针的位置上下对应;每个所述熔断器的一个电极的位置与一根所述加电探针的位置上下对应。

7.根据权利要求6所述的一种熔断器短时过载试验及测试装置,其特征在于:当所述熔断器是贴片式封装熔断器时,所述存储槽呈与所述熔断器对应的方形,所述测试探针/所述加电探针分别位于所述存储槽的两端上方。

8.根据权利要求6所述的一种熔断器短时过载试验及测试装置,其特征在于:当所述熔断器是轴向引线封装熔断器且两个引线分别位于熔断器两端时,所述存储槽两端分别延伸形成引线槽,所述测试探针/所述加电探针分别位于两端的所述引线槽上方。

9.根据权利要求6所述的一种熔断器短时过载试验及测试装置,其特征在于:当所述熔断器是轴向引线封装熔断器且两个引线位于熔断器同一端时,所述存储槽一端延伸出两条平行的引线槽,所述测试探针/所述加电探针分别位于所述引线槽上方。

10.根据权利要求8或9所述的一种熔断器短时过载试验及测试装置,其特征在于:所述引线槽对应探针的位置设有探针槽,所述探针槽的尺寸与所述测试探针/所述加电探针的尺寸相对应。

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