[实用新型]一种光学系统、色散物镜及光谱共焦传感器有效
申请号: | 202121464494.0 | 申请日: | 2021-06-29 |
公开(公告)号: | CN215375942U | 公开(公告)日: | 2021-12-31 |
发明(设计)人: | 胡浩;李一哲 | 申请(专利权)人: | 熵智科技(深圳)有限公司 |
主分类号: | G02B27/00 | 分类号: | G02B27/00;G02B13/00;G01B11/24 |
代理公司: | 暂无信息 | 代理人: | 暂无信息 |
地址: | 518034 广东省深圳市福田区*** | 国省代码: | 广东;44 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 光学系统 色散 物镜 光谱 传感器 | ||
一种光学系统,由物方至像方依次包括同轴设置的第一透镜、第二透镜、第三透镜、第四透镜、第五透镜以及第六透镜,其中,第一透镜用于控制外部光纤阵列投射调制侦测光的球差、慧差、并发散调制侦测光;第二透镜用于消除调制侦测光的球差、慧差,压缩调制侦测光的光束直径,并控制光学系统焦距;第三透镜用于控制调制侦测光的球差、并与第二透镜配合控制光学系统焦距;第四透镜用于与第二透镜、第三透镜配合控制光学系统的焦距;第五透镜用于消除调制侦测光的球差,并第二透镜、第三透镜、第四透镜配合用于控制光学系统焦距;第六透镜用于补偿调制侦测光的球差、消除调制侦测光的慧差。
技术领域
本实用新型属于光学测量领域,特别是涉及一种光学系统、色散物镜及光谱共焦传感器。
背景技术
随着精密和超精密制造业的迅速发展,对高精密的检测需求也越来越高,因此高精密的位移传感器也应运而生。超精密的位移传感器精度可达到微米级别;传统的接触式测量虽然也有较高的精度,但是由于其可能会划伤被测物体表面,而且当被测物体为弱刚性或是轻软材料时,接触式测量也会造成弹性形变,引入测量的误差,而且接触式测量速度较慢,难以实现自动化测量,基于接触式测量存在的诸多不足,因此非接触式位移传感器受到了更大的关注。
利用光谱共焦位移传感器,可以非接触式地、精确地测绘被测样品的外形尺寸和位移。目前的物体表面轮廓和形状检测仪采用光谱共焦位移传感器,这种技术方案采样方式为点测量,存在着采样效率低、工作速度慢的缺陷。
光谱共焦传感器中,色散物镜是其核心器件,色散物镜的好坏决定着分辨率、量程、线长等参数。目前,现有的线测量光谱共焦传感器在对物体表面轮廓和形状测量中时,色散物镜还存在着采样效率低、工作速度慢的缺点。
实用新型内容
本实用新型的目的是提供一种光学系统,以解决现有技术存在的问题。
为实现上述目的,本实用新型提供一种光学系统,由物方至像方依次包括同轴设置的第一透镜、第二透镜、第三透镜、第四透镜、第五透镜以及第六透镜,其中,所述第一透镜用于控制外部光纤阵列投射调制侦测光的球差、慧差、并发散所述调制侦测光;所述第二透镜用于消除所述调制侦测光的球差、慧差,压缩所述调制侦测光的光束直径,并控制所述光学系统焦距;所述第三透镜用于控制所述调制侦测光的球差、并与所述第二透镜配合控制所述光学系统焦距;所述第四透镜用于与所述第二透镜、所述第三透镜配合控制所述光学系统的焦距;所述第五透镜用于消除所述调制侦测光的球差,并所述第二透镜、所述第三透镜、所述第四透镜配合用于控制所述光学系统焦距;所述第六透镜用于补偿所述调制侦测光的球差、消除所述调制侦测光的慧差。
优选的,所述第一透镜为弯月透镜,朝向像方设置;所述第二透镜为弯月透镜,朝向像方设置;所述第三透镜为双凸透镜;所述第四透镜为弯月透镜,朝向物方设置;所述第五透镜为双凹透镜;所述第六透镜为双凸透镜。
优选的,所述第一透镜的焦距取值范围为-30mm至-15mm;所述第二透镜的焦距取值范围为25mm至50mm;所述第三透镜的焦距取值范围为60mm至80mm;所述第四透镜的焦距取值范围为60mm至80mm;所述第五透镜的焦距取值范围为-70mm至-50mm;所述第六透镜的焦距取值范围为40mm至60mm。
优选的,所述第一透镜与所述第二透镜之间的间距取值范围为3mm至10mm;所述第二透镜与所述第三透镜之间的间距取值范围为0.2mm至15mm;所述第三透镜与所述第四透镜之间的间距取值范围为0.2mm至15mm;所述第四透镜与所述第五透镜之间的间距取值范围为1mm至15mm;所述第五透镜与所述第六透镜之间的间距取值范围为5mm至40mm。
优选的,所述第一透镜的中心厚度取值范围为2mm-10mm;所述第二透镜的中心厚度取值范围6mm-20mm;所述第三透镜的中心厚度取值范围2mm-20mm;所述第四透镜的中心厚度取值范围2mm-20mm;所述第五透镜的中心厚度取值范围2mm-20mm;所述第六透镜的中心厚度取值范围2mm-20mm。
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