[实用新型]转接装置及测试系统有效

专利信息
申请号: 202121444704.X 申请日: 2021-06-28
公开(公告)号: CN216051873U 公开(公告)日: 2022-03-15
发明(设计)人: 曹铁;谢军;江泽明 申请(专利权)人: 浙江零跑科技股份有限公司
主分类号: G01R1/06 分类号: G01R1/06
代理公司: 杭州华进联浙知识产权代理有限公司 33250 代理人: 雷志刚
地址: 310051 浙江省杭*** 国省代码: 浙江;33
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摘要:
搜索关键词: 转接 装置 测试 系统
【说明书】:

实用新型涉及一种转接装置,包括:第一连接头,包括多个第一导电部;第二连接头;包括多个第二导电部;多根并排的连接线,多根连接线的一端分别一一对应地与多个第一导电部电性连接,多根连接线的另一端分别一一对应地与多个第二导电部电性连接;以及保护模块与多根并排的连接线中的至少一根串联连接,保护模块能够断开第一连接头与第二连接头之间的电性连接。本是实用新型中的转接装置,当第一转接头的多个第一导电部和第二转接头的多个第二导电部分别与模组对接时,如果第一导电部或第二导电部与模组的插接口发生短路,串联在连接线上的保护模块则会断开连接线,从而达到保护测试模组的目的。

技术领域

本实用新型涉及电学测试技术领域,特别是涉及转接装置及测试系统。

背景技术

在电学测试系统中,会对其中的两个模组或多个模组进行测试。在两个模组或多个模组中需要借助转接装置导通。例如,转接装置在连接导通两台模组时,需要将转接装置的两个连接头分别与两台模组的插接口对接。

在模组的测试过程中,工人将转接装置中的连接头与模组中的插接口对接或拔出时,可能施加在连接头上的作用力较大,导致模组中的插接口损坏。当连接头与损坏的插接口对接时,连接头与损坏的插接口容易发生短路,从而导致测试电路的电流异常,测试模组损坏或者报废。例如转接头包括PIN针,PIN针与损坏的插接口对接时,由于插接口损坏,原来每个PIN针对应插接口中的一个导电通道,而现在PIN针可能对应插接口中的两个或多个导电通道,因此导致测试电路短路。

实用新型内容

基于此,有必要针对上述问题,提供一种转接装置,进而提出一种包括该转接装置的测试系统。

一种转接装置,所述转接装置包括:

第一连接头,包括多个第一导电部;

第二连接头;包括多个第二导电部;

多根并排的连接线,多根并排的所述连接线的一端分别一一对应地与多个所述第一导电部电性连接,多根并排的所述连接线的另一端分别一一对应地与多个所述第二导电部电性连接;以及

保护模块,与多根并排的所述连接线中的至少一根串联连接,所述保护模块能够断开所述第一连接头与所述第二连接头之间的电性连接。

上述转接装置,当第一转接头的多个第一导电部和第二转接头的多个第二导电部分别与模组对接时,如果第一导电部或第二导电部与模组的插接口发生短路,串联在连接线上的保护模块则会断开连接线,从而达到保护测试模组的目的。

在其中一个实施例中,所述保护模块的数量为两个,在多根并排的所述连接线的排列方向上,位于两侧的两根连接线分别串联连接一个所述的保护模块。

在其中一个实施例中,所述保护模块数量与所述连接线的数量相同,每个所述保护模块分别对应地与一根所述连接线串联连接。

在其中一个实施例中,所述保护模块与多根并排的所述连接线均串联连接。

一种测试系统,包括所述的转接装置,所述测试系统还包括第一模组和第二模组;

所述第一模组包括多个第一插接口,多个所述第一插接口能够与多个所述第一导电部一一对应导通;

所述第二模组包括多个第二插接口,多个所述第二插接口能够与多个所述第二导电部一一对应导通。

在其中一个实施例中,所述第一插接口的的厚度为2mm-5mm。

在其中一个实施例中,所述第一模组内部设置有第一保险丝,所述第二模组内部设置第二保险丝,所述第一保险丝熔断需要的电流以及所述第二保险丝熔断需要的电流均大于触发所述保护模块断开所述测试系统的电流。

在其中一个实施例中,所述第一模组为尖头型接触母座。

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