[实用新型]用于空间仪器的气体放电光源控制系统有效

专利信息
申请号: 202121327521.X 申请日: 2021-06-15
公开(公告)号: CN215682685U 公开(公告)日: 2022-01-28
发明(设计)人: 陈波;韩振伟;宋克非;刘世界 申请(专利权)人: 中国科学院长春光学精密机械与物理研究所
主分类号: H05B41/14 分类号: H05B41/14;H05B41/26
代理公司: 长春中科长光知识产权代理事务所(普通合伙) 22218 代理人: 高一明;郭婷
地址: 130033 吉林省长春*** 国省代码: 吉林;22
权利要求书: 查看更多 说明书: 查看更多
摘要:
搜索关键词: 用于 空间 仪器 气体 放电 光源 控制系统
【权利要求书】:

1.一种用于空间仪器的气体放电光源控制系统,其特征在于,包括卫星平台、微处理器、DC-DC转换器、反激式变压器、开关管、整流滤波模块、电流监测模块、电压监测模块和温度监测模块;其中,

所述卫星平台用于提供初始输入电压;

所述DC-DC转换器与所述卫星平台耦接,用于将所述初始输入电压降至预设工作电压,为所述反激式变压器提供工作电压;

所述反激式变压器的原边绕组的一端与所述DC-DC转换器耦接,所述反激式变压器的原边绕组的另一端与所述开关管耦接,所述开关管与所述微处理器耦接,通过所述微处理器控制所述开关管的导通与截止,将所述原边绕组输入的直流电变为交流电,所述反激式变压器的副边绕组用于对交流电进行升压;

所述整流滤波模块的输入端与所述反激式变压器的副边绕组耦接,所述整流滤波模块的输出端与气体放电光源耦接,用于对所述副边绕组输出的交流电进行整流滤波并输出至所述气体放电光源,对其进行激励;

所述电流监测模块与所述微处理器耦接,用于实时监测所述气体放电光源的电流值,并传输至所述微处理器;

所述电压监测模块与所述微处理器耦接,用于实时监测所述气体放电光源的电压值,并传输至所述微处理器;

所述温度监测模块与所述微处理器耦接,用于实时监测所述气体放电光源当前所处环境的温度值,并传输至所述微处理器;

所述微处理器与所述卫星平台连接,用于读取所述卫星平台的星上时间,并根据所述星上时间计算所述气体放电光源累积使用总时间,并结合所述温度监测模块监测的温度值,查询所述气体放电光源的触发电压地面标定数据表,设置所述气体放电光源的当前触发电压值;所述微处理器还用于读取所述电压监测模块实时监测的电压值,并与所述当前触发电压值做差后进行比例放大和积分,向所述开关管输出对应频率和占空比的方波信号,构成电压闭环回路;

以及,所述微处理器用于读取所述电流监测模块实时监测的电流值,并与预设的光源工作电流值做差后进行比例放大和积分,向所述开关管输出对应频率和占空比的方波信号,构成电流闭环回路。

2.如权利要求1所述的用于空间仪器的气体放电光源控制系统,其特征在于,所述开关管为场效应晶体管,所述场效应晶体管的栅极与所述微处理器耦接,所述场效应晶体管的源极接地,所述场效应晶体管的漏极与所述反激式变压器的原边绕组耦接。

3.如权利要求1所述的用于空间仪器的气体放电光源控制系统,其特征在于,所述电流监测模块包括金属膜电阻、第一运算放大器和第一A/D转换器,所述金属膜电阻与所述气体放电光源串联,所述第一运算放大器的输入端耦接于所述所述金属膜电阻与所述气体放电光源之间,所述第一运算放大器的输出端与所述第一A/D转换器的输入端耦接,所述第一A/D转换器的输出端与所述微处理器耦接,所述金属膜电阻一侧的电压值经所述第一运算放大器阻抗变换,再经所述第一A/D转换器转换为数字信号传输至所述微处理器。

4.如权利要求1所述的用于空间仪器的气体放电光源控制系统,其特征在于,所述电压监测模块包括第一分压电阻、第二分压电阻、第二运算放大器和第二A/D转换器,所述第一分压电阻与所述第二分压电阻串联后并联在所述气体放电光源的两端,用于对所述气体放电光源进行分压,所述第一分压电阻与所述第二分压电阻之间的电压值经所述第二运算放大器阻抗变换,再经所述第二A/D转换器转换为数字信号传输至所述微处理器。

5.如权利要求1所述的用于空间仪器的气体放电光源控制系统,其特征在于,所述温度监测模块包括基准电压源、第三分压电阻、热敏电阻、第三运算放大器和第三A/D转换器,所述基准电压源、所述第三分压电阻、所述热敏电阻依次串联,所述第三运算放大器的输入端耦接于所述第三分压电阻与所述热敏电阻之间,所述第三运算放大器的输出端与所述第三A/D转换器的输入端耦接,所述第三A/D转换器的输出端与所述微处理器耦接;所述第三分压电阻与所述热敏电阻之间的电压值经所述第三运算放大器阻抗变换,再经所述第三A/D转换器转换为数字信号传输至所述微处理器。

下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。

该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于中国科学院长春光学精密机械与物理研究所,未经中国科学院长春光学精密机械与物理研究所许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服

本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/202121327521.X/1.html,转载请声明来源钻瓜专利网。

×

专利文献下载

说明:

1、专利原文基于中国国家知识产权局专利说明书;

2、支持发明专利 、实用新型专利、外观设计专利(升级中);

3、专利数据每周两次同步更新,支持Adobe PDF格式;

4、内容包括专利技术的结构示意图流程工艺图技术构造图

5、已全新升级为极速版,下载速度显著提升!欢迎使用!

请您登陆后,进行下载,点击【登陆】 【注册】

关于我们 寻求报道 投稿须知 广告合作 版权声明 网站地图 友情链接 企业标识 联系我们

钻瓜专利网在线咨询

周一至周五 9:00-18:00

咨询在线客服咨询在线客服
tel code back_top