[实用新型]一种对环形部件进行无损检测的装置

说明书

本实用新型涉及无损检测技术领域，尤其涉及一种对环形部件进行无损检测的装置，包括第一半环形组件、第二半环形组件以及带有探头的探测器；第一半环形组件上开设有供探头穿过的第一半环形通道，第二半环形组件上开设有供探头穿过的第二半环形通道；第一半环形组件与第二环形半组件可拆卸的连接成完整的环形组件；探头固定在一个滑块上，且探头伸入所述环形通道内，滑块设置在所述环形通道外，以使滑块在环形通道外滑动一周时，带动探头在环形通道内环绕一周。本实用新型可克服现有技术中人工手持探头进行探测时容易产生误差的缺陷，使探测更为轻松快速，使探测结果更加准确。

技术领域

本实用新型涉及无损检测技术领域，尤其涉及一种对环形部件进行无损检测的装置。

背景技术

现有无损检测技术中，通常都是通过对待检测部位进行X光射线探伤、超声波探伤、磁粉探伤、渗透探伤、涡流探伤、γ射线探伤等来进行检测。

而对于如管道类似的环形部件，例如其焊缝的检测，通常采用超声波探伤仪来进行，并且在使用时，由人工手持探头对着焊缝环绕一圈进行探测。这样的探测方式容易产生误差，因为人工操作会存在对不齐焊缝或者抖动、晃动等缺陷，而且长时间人工探测也会过于浪费人力，不利于工作的有效进行。

鉴于此，克服该现有技术所存在的缺陷是本技术领域亟待解决的问题。

实用新型内容

本实用新型的目的之一在于克服现有技术中人工手持探头进行探测时，容易产生误差的缺陷，提供一种对环形部件进行无损检测的装置，使探测更为轻松快速，使探测结果更加准确。

本实用新型是这样实现的：

本实用新型提供一种对环形部件进行无损检测的装置，包括第一半环形组件、第二半环形组件以及带有探头的探测器；

所述第一半环形组件上开设有供所述探头穿过的第一半环形通道，所述第二半环形组件上开设有供所述探头穿过的第二半环形通道；

所述第一半环形组件与所述第二半环形组件可拆卸的连接成完整的环形组件；且所述第一半环形通道与所述第二半环形通道可拆卸的连接成完整的环形通道；

所述探头固定在一个滑块上，且所述探头伸入所述环形通道内，所述滑块设置在所述环形通道外，以使所述滑块在环形通道外滑动一周时，带动所述探头在环形通道内环绕一周。

进一步的，所述第一半环形组件包括第一连接块、第一半环形板，所述第一连接块设置在所述第一半环形板一端，且所述第一连接块上开有第一定位孔，所述第一半环形板另一端设有第一定位柱。

进一步的，所述第一半环形通道设置在所述第一半环形板中部，且所述第一连接块在与所述第一半环形通道对应处开设有供所述滑块穿过的第一滑块通孔。

进一步的，所述第一半环形板在所述第一半环形通道两侧还设有第一滑轨，所述滑块底端设置有与第一滑轨相匹配的滑槽。

进一步的，所述第二半环形组件包括第二连接块、第二半环形板，所述第二连接块设置在所述第二半环形板一端，且所述第二连接块上开有第二定位孔，所述第二半环形板另一端设有第二定位柱，所述第二定位孔与所述第一定位柱过盈配合进行连接，所述第二定位柱与所述第一定位孔过盈配合进行连接，以使第一半环形组件与所述第二半环形组件连接成完整的环形组件。

进一步的，所述第二半环形通道设置在所述第二半环形板中部，且所述第二连接块在与所述第二半环形通道对应处开设有供所述滑块穿过的第二滑块通孔，所述第一半环形通道、第一滑块通孔、第二半环形通道以及第二滑块通孔连接成完整的环形通道。

进一步的，所述第二半环形板在所述第二半环形通道两侧还设有与所述滑块的滑槽相匹配的第二滑轨，所述第二滑轨与所述第一滑轨连接成供所述滑块滑动的完整环形滑轨。