[实用新型]一种带灯珠基板的测试治具

说明书

本实用新型公开了一种带灯珠基板的测试治具，包括一测试平台、设置于测试平台上的一基板载具、及设置于基板载具上方的一测试机构，在该基板载具上形成有一基板卡槽，在该基板卡槽上形成有至少一灯珠让位槽。本实用新型提供的带灯珠基板的测试治具，可对带灯珠基板进行有效定位，防止带灯珠基板移位，从而利于对准测试点进行测试，提高测试精度；同时，可防止灯珠被刮花，从而保证带灯珠基板的质量。而且，测试方便快捷，耗时短，效率高。

技术领域

本实用新型涉及一种测试治具，尤其涉及一种带灯珠基板的测试治具。

背景技术

在带灯珠基板生产加工完成后，需要对基板上灯珠的通电性能进行测试，以防存在短路、断路现象。现有的测试方法是，人工直接采用电笔进行测试。这种方式存在测试效率低的问题，特别是当基板上有很多个灯珠时，测试起来就比较麻烦，耗时长，效率低。

同时，在测试的过程中，基板易移动，不利于电笔接触测试点，对测试带来很大的不便，且影响测试精度。

实用新型内容

针对上述不足，本实用新型的目的在于提供一种带灯珠基板的测试治具，可对带灯珠基板进行有效定位，防止带灯珠基板移位，从而利于对准测试点进行测试，提高测试精度；同时，可防止灯珠被刮花，从而保证带灯珠基板的质量。而且，测试方便快捷，耗时短，效率高。

本实用新型为达到上述目的所采用的技术方案是：

一种带灯珠基板的测试治具，包括一测试平台、设置于测试平台上的一基板载具、及设置于基板载具上方的一测试机构，其特征在于，在该基板载具上形成有一基板卡槽，在该基板卡槽上形成有至少一灯珠让位槽。

作为本实用新型的进一步改进，在所述基板载具上且位于基板卡槽相对的两侧边分别形成有一抓取让位槽。

作为本实用新型的进一步改进，在所述测试平台上设置有一定位组件，该定位组件包括相对设置于测试平台上的两根定位条块、及设置于测试平台上且位于两根定位条块一端之间的一定位挡块，在该定位条块与定位挡块上分别形成有至少一条形安装孔，该定位条块与定位挡块通过至少一螺钉与条形安装孔相配合安装于测试平台上。

作为本实用新型的进一步改进，所述测试机构包括架设于测试平台上的一安装支架、设置于安装支架上的一升降操作组件、及设置于基板载具上方且连接于升降操作组件的一测试针板。

作为本实用新型的进一步改进，所述升降操作组件包括固定设置于安装支架上的一连接件、活动贯穿连接件下部的一升降杆、转动连接于连接件上部的一转动手柄、及转动连接于转动手柄且连接于升降杆上部的一连接耳结构，其中，该升降杆下部连接于测试针板。

作为本实用新型的进一步改进，在所述连接件下部形成有供升降杆活动贯穿的一套筒。

作为本实用新型的进一步改进，所述连接耳结构主要由相对设置的两块连接耳组成，该连接耳上端与转动手柄侧边转动连接，下端与升降杆侧边连接。

作为本实用新型的进一步改进，所述连接耳与转动手柄之间、连接耳与升降杆之间、及转动手柄与连接件之间分别通过一销钉连接。

作为本实用新型的进一步改进，在所述安装支架与测试平台之间设置有至少两根升降定位导柱，在该测试针板上设置有活动套设于升降定位导柱外围的至少两个升降定位导套。

作为本实用新型的进一步改进，在所述测试针板上设置有贯穿至测试针板下端且朝向基板载具的数根测试针，该数根测试针通过导线与电源正负极连接。

本实用新型的有益效果为：

(1)通过基板载具上基板卡槽与灯珠让位槽的特殊结构设计，实现对带灯珠基板进行有效定位，防止带灯珠基板移位，从而利于对准测试点进行测试，提高测试精度；同时，由灯珠让位槽为灯珠让位，防止灯珠被刮花，从而保证带灯珠基板的质量。