[实用新型]一种三综合试验箱密封结构有效
| 申请号: | 202121036399.0 | 申请日: | 2021-05-14 |
| 公开(公告)号: | CN214787049U | 公开(公告)日: | 2021-11-19 |
| 发明(设计)人: | 杨莉;刘海祥;张正海;项年 | 申请(专利权)人: | 武汉致一检测技术有限公司 |
| 主分类号: | E06B7/16 | 分类号: | E06B7/16;E05B65/52;G01R31/00;G01R1/04 |
| 代理公司: | 暂无信息 | 代理人: | 暂无信息 |
| 地址: | 430223 湖北省武汉市东湖*** | 国省代码: | 湖北;42 |
| 权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索关键词: | 一种 综合 试验 密封 结构 | ||
本实用新型公开了一种三综合试验箱密封结构,其技术方案是:包括箱体,所述箱体两侧均固定设有框体,所述框体内部设有辅助机构,所述辅助机构包括横板,所述横板设于框体内部并延伸至框体外部,所述横板前侧固定设有竖板,所述竖板一侧固定设有固定板,所述箱体顶侧壁两侧均开设有空槽,本实用新型的有益效果是:通过辅助机构的设计,可以使密封门在关闭的时候通过斜板的设计对第一密封垫和第二密封垫进行卡接,以保证三综合试验箱在温度、湿度和振动的内部测试中不会使第一密封垫与第二密封垫分离或是位置偏移,以解决原有设备的密封垫不够牢固导致需要人工打扫液体流出的问题。
技术领域
本实用新型涉及试验箱技术领域,具体涉及一种三综合试验箱密封结构。
背景技术
三综合试验箱结合温度、湿度、振动功能于一体,适用于航空航天产品、信息电子仪器仪表、材料、电工、电子产品、各种电子元气件在综合的恶劣环境下检验其各项性能指标,三综合试验箱主要为航天、航空、石油、化工、电子、通讯等科研及生产单位提供温湿度变化环境,同时可在试验箱内将电振动应力按规定的周期施加到试品上,供用户对整机或部件、电器、仪器、材料等作温湿度、振动综合应力筛选试验,以便考核试品的适应性或对试品的行为作出评价,与单一因素作用相比,更能真实地反映电工电子产品在运输和实际使用过程中对温湿度及振动复合环境变化的适应性,暴露产品的缺陷,是新产品研制、样机试验、产品合格鉴定试验全过程必不可少的重要试验手段。
现有技术存在以下不足:现有的三综合密封箱虽然都可以达到密封的效果,但是由于设备的长期使用以及内部强烈的工作程度会使密封的效果在时间的推移下,密封效果逐渐变差,大不如前,最终引发液体渗透的问题,一方面,容易导致液体流出需要工人打扫,增加了不必要的工作内容,另一方面,不断地更换密封垫也间接增加了劳动与经济的成本。
因此,发明一种三综合试验箱密封结构很有必要。
实用新型内容
为此,本实用新型提供一种三综合试验箱密封结构,通过辅助机构的设计,可以使密封门在关闭的时候通过斜板的设计对第一密封垫和第二密封垫进行卡接,以保证三综合试验箱在温度、湿度和振动的内部测试中不会使第一密封垫与第二密封垫分离或是位置偏移,以解决原有设备的密封垫不够牢固导致需要人工打扫液体流出的问题。
为了实现上述目的,本实用新型提供如下技术方案:一种三综合试验箱密封结构,包括箱体,所述箱体两侧均固定设有框体,所述框体内部设有辅助机构;
所述辅助机构包括横板,所述横板设于框体内部并延伸至框体外部,所述横板前侧固定设有竖板,所述竖板一侧固定设有固定板,所述箱体顶侧壁两侧均开设有空槽,所述固定板延伸入空槽内部,所述空槽前侧设有第一密封垫,所述第一密封垫后侧固定设有移动板,所述箱体前侧设有密封门,所述密封门与箱体通过合页连接;
所述辅助机构还包括两个辅助组件与一个辅助部件,两个所述辅助组件分别设于移动板两侧,所述辅助部件设于箱体外部;
所述辅助组件包括斜板,所述斜板设于移动板一侧,所述斜板与移动板通过活动绞座活动连接,所述斜板一侧设有推块,所述推块一侧固定设有抵板,所述抵板一侧设有两个木板,两个所述木板均与抵板通过活动绞座活动连接。
优选的,所述框体两侧均开设有第一通槽,所述横板贯穿第一通槽,所述箱体一侧开设有连接槽,所述连接槽内腔底部固定设有第一伸缩杆,所述第一伸缩杆外部设有第一弹簧,所述横板延伸入连接槽内部并与第一伸缩杆顶部固定连接,所述框体与箱体顶侧壁之间开设有第二通槽,所述固定板贯穿第二通槽。
优选的,所述斜板与移动板之间设有第二伸缩杆,所述第二伸缩杆两端分别与斜板和移动板通过活动绞座活动连接,所述空槽内腔两侧壁均固定设有挡板,所述斜板与挡板相接触。
优选的,所述固定板前侧固定设有两个T形板,两个所述木板之间设有第三伸缩杆,所述第三伸缩杆外部设有第三弹簧,所述第三伸缩杆两端分别与两个木板通过活动绞座活动连接。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于武汉致一检测技术有限公司,未经武汉致一检测技术有限公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/202121036399.0/2.html,转载请声明来源钻瓜专利网。





