[实用新型]指纹模组测试结构

说明书

本实用新型提供一种指纹模组测试结构，用于测试指纹模组连板，指纹模组测试结构包括转接电路板和载板，转接电路板的上表面和载板的下表面贴合连接，指纹模组连板的下表面与载板的上表面相贴合，指纹模组连板上具有多个指纹模组，每个指纹模组的下表面均设有连接器，转接电路板的上表面设有多组焊盘，载板内设有多个顶针模块，多个顶针模块同时与多个指纹模组的连接器和多组焊盘相对应，每个顶针模块的顶端与一个对应的连接器之间电信号导通连接，每个顶针模块的底端与一组对应的焊盘之间电信号导通连接。本实用新型的指纹模组测试结构每次可对多个指纹模组进行测试，操作简便、工作效率高，同时降低了生产成本。

技术领域

本实用新型涉及指纹模组测试技术领域，尤其是涉及一种指纹模组测试结构。

背景技术

如图1所示，目前常规的指纹模组测试结构只能用于单个指纹模组81的测试，该指纹模组测试结构包括载板82、转接电路板83、压头84和底托板85。指纹模组81包括指纹芯片811和指纹电路板812，指纹芯片811贴合于指纹电路板812的上表面，指纹芯片811和指纹电路板812之间电信号导通连接。

载板82的上表面设有下沉槽822，指纹电路板812安装在下沉槽822内，载板82的下表面和转接电路板83的上表面贴合连接。载板82一侧开有通孔821，指纹电路板812的下表面设有连接器813，转接电路板83的上表面焊接有连接器扣合母座831，连接器扣合母座831和连接器813均位于通孔821内，且连接器813与连接器扣合母座831相扣合，从而实现指纹电路板812和转接电路板83之间的电信号导通连接。转接电路板83设有排线接口832，排线接口832通过导线连接到测试主板(图未示)，转接电路板83的下表面和底托板85的上表面贴合连接。

当压头84(包含条纹线路图案)按压在指纹芯片811表面后，指纹芯片811获取对应的图像信号，图像信号依次通过指纹电路板812-连接器813-连接器扣合母座831-转接电路板83-排线接口832传递到测试主板，从而实现指纹模组81的功能测试。

以上所述的常规指纹模组测试结构每次只能进行单个指纹模组的测试，每次测试完成后都需要更换指纹模组，频繁更替指纹模组的操作导致了工作效率低下，进而导致生产成本增加。

实用新型内容

本实用新型的目的是提供一种指纹模组测试结构，旨在解决上述背景技术存在的不足，每次可对多个指纹模组进行测试，操作简便、工作效率高，同时降低了生产成本。

本实用新型提供一种指纹模组测试结构，用于测试指纹模组连板，所述指纹模组测试结构包括转接电路板和载板，所述转接电路板的上表面和所述载板的下表面贴合连接，所述指纹模组连板的下表面与所述载板的上表面相贴合，所述指纹模组连板上具有多个指纹模组，每个所述指纹模组的下表面均设有连接器，所述转接电路板的上表面设有多组焊盘，所述载板内设有多个顶针模块，多个所述顶针模块同时与多个所述指纹模组的连接器和多组所述焊盘相对应，每个所述顶针模块的顶端与一个对应的所述连接器之间电信号导通连接，每个所述顶针模块的底端与一组对应的所述焊盘之间电信号导通连接。

进一步地，所述载板内上下贯穿设有多个通孔，多个所述通孔同时与多个所述指纹模组的连接器和多组所述焊盘相对应，多个所述通孔与多个所述顶针模块的数量相同，每个所述顶针模块设置在一个对应的所述通孔内。

进一步地，每个所述指纹模组包括指纹芯片和指纹电路板，所述指纹芯片与所述指纹电路板的上表面贴合连接，所述连接器设置在每个所述指纹电路板的下表面。

进一步地，所述载板的上表面设有第一容置槽，所述第一容置槽的尺寸大小与所述指纹模组连板的尺寸大小相同，所述指纹模组连板安装在所述第一容置槽内。

进一步地，每个所述指纹模组的上表面均设有感应区域，每个所述指纹模组的下表面均设有导电基，所述导电基与所述感应区域相对应，所述载板的上表面对应于每个所述导电基的位置设有第二容置槽，所述导电基位于所述第二容置槽内。