[发明专利]一种气体管道内颗粒杂质浓度的监测装置

权利要求书

1.一种气体管道内颗粒杂质浓度的监测装置，其特征在于，包括：

光源；

准直系统，所述准直系统用于对所述光源照射的光进行准直处理；

监测器，所述监测器具有用于供天然气管道内的气体流通的气体通道，所述气体通道具有供准直光束穿过的光通路和用于供所述准直光束穿过所述光通路后反射的光束穿过的反射光路，所述气体通道在所述反射光路和所述光通路处的截面大小不同；

散射光收集系统，所述散射光收集系统用于分别收集所述光通路的散射光和所述反射光路的散射光；

信号处理系统，所述信号处理系统与所述散射光收集系统信号连接，并将所述散射光收集系统收集的光信号转换为电信号，并根据电信号的测量脉冲数目和单个脉冲的高度，计算得到被测气流中的含尘浓度和粒度分布。

2.根据权利要求1所述的气体管道内颗粒杂质浓度的监测装置，其特征在于，所述监测器为文丘里管，所述光通路垂直穿过所述文丘里管的喉道。

3.根据权利要求2所述的气体管道内颗粒杂质浓度的监测装置，其特征在于，所述文丘里管的进口和出口均与天然气管道通过法兰密封连接。

4.根据权利要求2所述的气体管道内颗粒杂质浓度的监测装置，其特征在于，所述反射光路为两个，分别为第一反射光路和第二反射光路，并且分布在所述光通路的两侧。

5.根据权利要求4所述的气体管道内颗粒杂质浓度的监测装置，其特征在于，所述光通路远离所述光源的一端倾斜设置有半透半反射的反射镜，且所述反射镜反射出的光束与准直光束垂直并经第一全反射镜射入第一反射光路，所述反射镜透过的光束经过第二全反射镜反射后经第三全反射镜射入第二反射光路。

6.根据权利要求5所述的气体管道内颗粒杂质浓度的监测装置，其特征在于，还包括：

用于测量经过所述第一反射光路穿出的光束的光强的第一光强测量器；

用于测量经过所述第二反射光路穿出的光束的光强的第二光强测量器。

7.根据权利要求5所述的气体管道内颗粒杂质浓度的监测装置，其特征在于，还包括：

用于测量所述气体通道在所述第一反射光路处的流量的第一流量计；

用于测量所述气体通道在所述第二反射光路处的流量的第二流量计。

8.根据权利要求7所述的气体管道内颗粒杂质浓度的监测装置，其特征在于，所述第一流量计为一端获取所述第一反射光路对应的所述气体通道处的压力，另一端获取所述光通路对应的所述气体通道处的压力的第一差压流量计；

所述第二流量计为一端获取所述第二反射光路对应的所述气体通道处的压力，另一端获取所述光通路对应的所述气体通道处的压力的第二差压流量计。

9.根据权利要求5所述的气体管道内颗粒杂质浓度的监测装置，其特征在于，还包括：用于获取所述气体通道在所述第一反射光路、所述第二反射光路和所述光通路处温度的温度传感器。

10.根据权利要求1-9任一项所述的气体管道内颗粒杂质浓度的监测装置，其特征在于，所述散射光收集系统密封安装在所述监测器的壳体内的安装槽内，所述安装槽能够与所述气体通道内部连通，且所述散射光收集系统与所述气体通道的中轴线的连线均垂直于所述第一反射光路、所述第二反射光路和所述光通路。