[发明专利]基于握手机制的单次触发逻辑测试的方法及应用

说明书

本发明公开了一种基于握手机制的单次触发逻辑测试的方法及应用，该方法包括以下步骤：在激励组件发送满足触发调试信息条件的激励时，将激励组件和参考模型的握手信号设置为第一值，并触发所述调试信息；在仿真过程中检测到所述调试信息与参考模型中记录的期望的调试信息一致时，将所述握手信号设置为第二值，其中，所述握手信号用于判断激励组件与参考模型之间单次触发逻辑是否已经比较完成；以及通知激励组件重新发送带有所述调试信息触发标记的激励。该方法能够实现数字芯片模块验证的回归测试中每个测试用例将单次触发逻辑进行多次重复触发，并且比对触发的信息记录是否正确，从而提高在相同测试用例的情况下单次触发逻辑的测试覆盖率。

技术领域

本发明是关于通信领域，特别是关于一种基于握手机制的单次触发逻辑测试的方法及应用。

背景技术

在数字芯片中，通常会增加一些可以用来查看芯片状态或者数据流状态的调试信息，这些调试信息通常由特定的数据或报文触发，但是一旦逻辑触发调试信息的记录，就不会重复记录，只有等到用户通过软件的方式将调试信息读走并且重置调试信息记录标志，后续才可以再次有满足条件的特定数据或者报文时才会重新触发调试信息的记录。

在芯片的模块验证过程中，对于调试信息的单次触发逻辑在回归的测试中，每个测试用例只会触发记录一次调试信息，这样对于调试信息的触发逻辑的测试覆盖率很难保证，针对不同的调试信息需要不断的增加测试用例保证测试覆盖率。每个测试用例只能记录一次调试信息主要是因为调试信息的触发逻辑在触发调试信息记录的同时，还会同时将调试信息记录标志位置起，调试信息记录标志位逻辑本身并不能复位，而在模块级的回归测试中没有系统软件的参与，所以模块级的回归测试对于调试信息触发逻辑的覆盖率就难以收敛。

公开于该背景技术部分的信息仅仅旨在增加对本发明的总体背景的理解，而不应当被视为承认或以任何形式暗示该信息构成已为本领域一般技术人员所公知的现有技术。

发明内容

本发明的目的在于提供一种基于握手机制的单次触发逻辑测试的方法及应用，解决数字芯片单次触发逻辑的测试覆盖率需要通过大量的测试用例来保证的问题。

为实现上述目的，本发明的实施例提供了一种基于握手机制的单次触发逻辑测试的方法。

在本发明的一个或多个实施方式中，所述方法包括：在激励组件发送满足触发调试信息条件的激励时，将激励组件和参考模型的握手信号设置为第一值，并触发所述调试信息；在仿真过程中检测到所述调试信息与参考模型中记录的期望的调试信息一致时，将所述握手信号设置为第二值，其中，所述握手信号用于判断激励组件与参考模型之间单次触发逻辑是否已经比较完成；以及通知激励组件重新发送带有所述调试信息触发标记的激励。

在本发明的一个或多个实施方式中，所述在激励组件发送满足触发调试信息条件的激励时，将激励组件和参考模型的握手信号设置为第一值，并触发所述调试信息，包括：激励组件判断所述激励是否满足触发调试信息的条件；若是，将激励组件和参考模型的握手信号标志位设置为第一值；若否，待测设计判断所述激励是否满足触发调试信息的条件；若是，触发所述调试信息，并将所述调试信息记录标志位设置为第一值。

在本发明的一个或多个实施方式中，所述在仿真过程中检测到所述调试信息与参考模型中记录的期望的调试信息一致时，将所述握手信号设置为第二值，包括：虚拟处理器在参考模型中监测所述调试信息记录标志位；在所述调试信息记录标志位为第一值时，判断激励组件发送的激励触发的调试信息与参考模型中记录的期望的调试信息是否一致；若是，将所述调试信息记录标志位和所述握手信号标志位设置为第二值。

在本发明的另一个方面当中，提供了一种基于握手机制的单次触发逻辑测试的装置，其包括触发模块、比较模块和通知模块。

触发模块，用于在激励组件发送满足触发调试信息条件的激励时，将激励组件和参考模型的握手信号设置为第一值，并触发所述调试信息。