[发明专利]测试电路和测试系统

说明书

本申请涉及一种测试电路和测试系统。该测试电路包括负载电路、运放电路和驱动电路；其中，负载电路包括MOS管和负载电阻，MOS管的第一极通过负载电阻接地，MOS管的第二极用于与被测电源连接；驱动电路的输出端与MOS管的控制极连接，驱动电路的输入端用于与驱动信号产生电路连接；运放电路的输入端与负载电阻的至少一端连接，运放电路的输出端与驱动电路连接；在测试电路处于工作状态的情况下，驱动信号产生电路所产生的信号电压与运放电路的输出端的电压相等。本申请提供的技术方案能够提高电源测试的可靠性。

技术领域

本申请涉及测试技术领域，特别是涉及一种测试电路和测试系统。

背景技术

随着芯片制造国产化进程的加速，国内很多芯片厂商陆续推出了国产CPU(central processing unit，中央处理器)、GPU(graphics processing unit，图形处理器)等芯片。在芯片的设计过程中，对芯片的电源进行测试验证是非常重要的步骤。

通常情况下，期望芯片的电流发生瞬变时，电源的输出电压也能维持在特定容差范围内，这样才能确保芯片线路的正常工作。目前，一般是通过电子负载仪模拟芯片产生电流来对电源进行测试验证。

但是，上述利用电子负载仪进行电源测试，常常存在电源测试的可靠性差的问题。

发明内容

基于此，有必要针对上述技术问题，提供一种能够提高电源测试的可靠性的测试电路和测试系统。

第一方面，本申请提供了一种测试电路，所述测试电路包括负载电路、运放电路和驱动电路；其中，

所述负载电路包括MOS管和负载电阻，所述MOS管的第一极通过所述负载电阻接地，所述MOS管的第二极用于与被测电源连接；

所述驱动电路的输出端与所述MOS管的控制极连接，所述驱动电路的输入端用于与驱动信号产生电路连接；

所述运放电路的输入端与所述负载电阻的至少一端连接，所述运放电路的输出端与所述驱动电路连接；

在所述测试电路处于工作状态的情况下，所述驱动信号产生电路所产生的信号电压与所述运放电路的输出端的电压相等。

在测试电路处于工作状态的情况下，即测试电路内部环路动态平衡，驱动信号产生电路所产生的信号电压V_REF与运放电路的输出端的电压相等，而运放电路的输出端的电压又等于负载电阻的电阻值R_sense、负载电阻的电流I_sense以及运放电路的放大倍数Gain三者的乘积，从而，负载电阻的电流I_sense则可以通过对V_REF、R_sense以及Gain进行线性运算得到，负载电阻的电流I_sense即负载电路输出给被测电源的电流，由此可以看出，本申请实施例通过改变驱动信号产生电路所产生的信号电压V_REF则可以线性改变负载电阻的电流I_sense，保持V_REF值不变则可以实现对被测电源施加静态的电流I_sense，动态地改变V_REF则可以实现对被测电源施加动态的电流I_sense，这就避免了传统技术中通过电子负载仪进行电源测试时，当电流发生突变电子负载仪的线缆上会产生感抗效应抑制电流突变的速度，导致无法模拟真实的负载跳变情况，从而导致电源测试的可靠性差的弊端，本申请实施例测试电路可以更好地模拟真实工作场景下的负载电流变化，从而提升了电源测试的可靠性。

另外，在实际实施过程中，驱动信号产生电路的占空比、频率、电流上升斜率、最大值、最小值可调，实施灵活性高。

在其中一个实施例中，所述驱动电路的输入端包括第一驱动输入端和第二驱动输入端；其中，

所述第一驱动输入端用于与所述驱动信号产生电路连接；