[发明专利]一种可调节的平面度规

说明书

本发明公开了一种可调节的平面度规，包括：刻度标尺柱、阻尼套筒、中央卡扣和旋转轴，所述阻尼套筒内部中央设有刻度标尺柱，所述阻尼套筒一侧外壁中央设有中央卡扣，所述阻尼套筒外壁另一侧位于中央卡扣上下两端设有端卡扣，本发明通过将串联好的阻尼套筒放置在待测平面上方，按压各个刻度标尺柱，使得刻度标尺柱底端与待测平面顶面相接触，此时读取最高刻度标尺柱和最低刻度标尺柱的读数，两者相减即可得出平面的平面度，通过旋转轴的连接，各个阻尼套筒能够转至不同的角度，便于适用于形状各异的平面的平面度测量，通过各个刻度标尺柱的刻度，能够反应平面上各个部位的变形量，为后续的平面校正带来数据支撑。

技术领域

本发明涉及测量器具技术领域，特别是涉及一种可调节的平面度规。

背景技术

平面度是指基片具有的宏观回凸高度相对理想平面的偏差。平面度是限制实际平面对其理想平面变动量的一项指标，用来控制被测实际平面的形状误差。平面度的测量有打表测量法。打表测量法是将被测零件和测微计放在标准平板上，以标准平板作为测量基准面，用测微计沿实际表面逐点或沿几条直线方向进行测量。

传统的平面度测量规往往需要在平面上的多点进行测量，测量速度慢的同时，测量点位多不易标记，无法对平面不平整部位进行后续的辅助校正。

发明内容

本发明的目的在于提供一种可调节的平面度规，以解决上述背景技术中提出的传统的平面度测量规测量速度慢的同时，测量点位多不易标记，无法对平面不平整部位进行后续的辅助校正的问题。

为实现上述目的，本发明提供如下技术方案：一种可调节的平面度规，包括：刻度标尺柱、阻尼套筒、中央卡扣和旋转轴，所述阻尼套筒内部中央设有刻度标尺柱，所述阻尼套筒一侧外壁中央设有中央卡扣，所述阻尼套筒外壁另一侧位于中央卡扣上下两端设有端卡扣，所述端卡扣内部设有旋转轴。

进一步的，所述刻度标尺柱一侧刻有刻度，便于读数。

进一步的，所述阻尼套筒内部两端位于刻度标尺柱插接部位设有密封垫，用于刻度标尺柱的清洁，防止刻度标尺柱上的灰尘进入到阻尼套筒内部。

进一步的，所述刻度标尺柱与阻尼套筒之间为过渡配合，便于刻度标尺柱在阻尼套筒内移动时存在阻尼感的同时，防止刻度标尺柱的自由滑落。

进一步的，所述端卡扣之间的间隙与中央卡扣的厚度相同，便于端卡扣和中央卡扣之间连接紧密。

进一步的，所述端卡扣和中央卡扣中央位于旋转轴插接部位开设有通孔，所述旋转轴顶部一端设有限位块，通过旋转轴将两个阻尼套筒的中央卡扣和端卡扣，实现阻尼套筒的收尾串联，平面上的多点测量，同时通过旋转轴上的限位块，保证中央卡扣和端卡扣连接紧密，保证各个阻尼套筒端面在一个平面上，便于读数准确。

进一步的，所述旋转轴底部一端设有限位块，用于防止旋转轴脱离端卡扣和中央卡扣。

进一步的，所述阻尼套筒外壁设有防滑纹，便于阻尼套筒的握持。

进一步的，所述刻度标尺柱两端为水平面，便于刻度标尺柱底面与待测平面相贴合，保证读数精准。

进一步的，所述阻尼套筒两端与刻度标尺柱两端相平行，便于在刻度标尺柱在阻尼套筒内移动以后，通过阻尼套筒两端面与刻度标尺柱的刻度相对比，便于读数准确。

与现有技术相比，本发明的有益效果是：