[发明专利]一种SOC开发流程在审

专利信息
申请号: 202111573365.X 申请日: 2021-12-21
公开(公告)号: CN114398852A 公开(公告)日: 2022-04-26
发明(设计)人: 夏晓亮 申请(专利权)人: 杭州芯耘光电科技有限公司
主分类号: G06F30/398 分类号: G06F30/398;G06F111/04;G06F115/02
代理公司: 暂无信息 代理人: 暂无信息
地址: 311100 浙江省杭州市余*** 国省代码: 浙江;33
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摘要:
搜索关键词: 一种 soc 开发 流程
【说明书】:

发明公开了一种SOC开发流程,其特征是包括:开始阶段:时间线和架构准备;执行阶段:生成模块文件和开发UVM测试用例;回归阶段:开发模板和芯片的约束条件、网表生成和进行收敛要求判断;最后阶段:完成STA、LVS、DRC、LEC、时序、IR Drop和物理检查以及进行测试判断。本发明提供一种减少芯片设计过程失误,提高流片的成功率并且缩短了芯片开发周期的一种SOC开发流程。

技术领域

本发明涉及集成电路制造领域,尤其涉及一种SOC开发流程。

背景技术

目前随着国内外集成电路工艺的不断进步和IC市场越来越大的需求,以IP核重用、软硬件协同设计为核心的SOC技术成为了行业的热点,也取得了重大成就,越来越多的SOC产品应用于各类行业,比如汽车电子,工业控制和光通讯等行业。本来由多个芯片实现的功能,通过SOC设计方法可以集成到单个芯片上,节约了成本、芯片面积功耗等。此外,其特点之一是通过规范的方法,减少芯片设计过程失误,提高流片的成功率。

其特点之二的IP重用技术也是缩短了芯片开发周期,大多数IP都是经过验证的成型模块,可以直接加入SOC芯片中,也就减少了错误率,所以SOC设计可以利用前期积累的设计成果,加速IC设计的流程,缓解现在IC市场上供不应求的局面。

现有的SOC芯片设计流程,主要分为以下几部分:IP开发阶段,IP验证阶段,SOC开发阶段,SOC仿真阶段,FPGA验证阶段,综合阶段,物理设计阶段,每个阶段涉及不同的EDA工具,每个阶段由各团队独自开发脚本,独自运行,流程之间通过人工做交接和检查。

目前这种开发方法存在以下缺点:在芯片开发流程中,特别是中后期发现一些bug时,仍然需要大量人员投入整个项目开发,而且整个串行结构的周期会非常长,缺少规范的管理,文档的完整性与规范性难以保证。

本申请的提出的SOC设计方法,核心思想是重用IP核的设计与开发程规范化,重用IP核的设计通过总线把所有的IP模块连接在一起,减小系统设计的难度;开发规范化通过流程规范化与文档规范化,提高设计的正确性与时效。

发明内容

本发明为了克服现有技术的IC设计周期长的问题,提出一种减少芯片设计过程失误,提高流片的成功率并且缩短了芯片开发周期的一种SOC开发流程。

为了实现上述目的,本发明采用以下技术方案:

本发明解决其技术问题所采用的技术方案是:一种SOC开发流程,包括:

开始阶段:项目文件准备;

执行阶段:生成模块文件和开发UVM测试用例;

回归阶段:开发模板和芯片的约束条件、网表生成和进行收敛要求判断;

最后阶段:完成STA、LVS、DRC、LEC、时序、IR Drop和物理检查以及进行测试判断。

作为优选,所述开始阶段包括:

首先进行项目准备,项目准备内容包括时钟树和架构;

然后生成准备文档和技术库文件、准备主要设计文件的芯片一般信息,以及进行UVM环境、行为模块、基本验证用例的主要准备。

作为优选,所述执行阶段中生成模块文件过程包括两个阶段,第一阶段的过程包括:根据开始阶段中的准备文档和技术库文件,完成物理设计过程的模块文件和综合过程的模块文件。

第二阶段的过程包括以下步骤:

a1:根据开始阶段中的主要设计文件的芯片一般信息,完成设计过程的模块文件;

a2:为每个模块RTL编码,完成检测和稳定版本;

a3:判断RTL编码是否完成,若完成,则进入功能调试步骤;若未完成则返回a2步骤。

作为优选,所述开发UVM测试用例包括以下步骤:

b1:根据UVM环境、行为模块、基本验证用例的主要准备文件生成用于测试功能的文件;

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