[发明专利]一种PCIe Switch的端口测试管理方法和装置

说明书

本发明提供了一种PCIe Switch的端口测试管理方法和装置，该方法包括：将多个PCIe Switch进行级联连接；将与级联连接的PCIe Switch相关联的多个虚拟EP设备进行统一编号，并将所有C代码进行整合；从多个虚拟EP设备中确定触发设备，通过触发设备对目标设备执行输入输出业务，以发起对目标端口的测试。本发明将PCIe Switch的多个虚拟EP进行统一管理，便于各个方向数据流的全覆盖验证，适用于PCIe Switch的多端口功能遍历和压力测试。

技术领域

本发明属于总线设计领域，特别涉及一种PCIe Switch的端口测试管理方法和装置。

背景技术

PCIe Switch是PCIe拓扑结构中的一个扩展器件，可以用来扩展PCIe的通道(lane)的数量，以此增强主CPU的PCIe设备的扩展能力。PCIe Switch广泛应用于大型存储系统或服务器平台的板卡设备中。传统的标准PCIe Switch具有一个上行端口(UP)和多个下行端口(DP)，在PCIe Switch芯片设计验证阶段，需要对UP和每个DP端口进行功能遍历和压力测试。

常见的测试平台包括FPGA平台和EMU平台。在FPGA平台上，PCIe Switch芯片的UP端口连接服务器，DP端口连接真实的EP(Endpoint，端点)设备，对PCIe Switch端口进行功能验证。在FPGA测试环境中存在端口无法全部覆盖的问题。由于FPGA的资源限制，需要对芯片逻辑进行裁剪，单个版本只能测试有限的几个端口，无法将全部端口都进行覆盖测试。在EMU平台上，有两种常见的测试场景，一种是DP端口通过转接卡连接真实的EP设备，另一种是使用虚拟EP的方案。参见图1，在DP端口连接虚拟EP设备，每一个虚拟EP都有一份C代码进行业务管理。其中，当在EMU平台使用真实的EP设备时，存在成本高的问题，因为EMU平台需要先连接供应商提供的昂贵的转接卡，再连接EP设备。PCIe Switch需要测试的DP端口众多，而在使用虚拟EP的方案的情况下，每增加一个虚拟EP，就需要增加一份C代码，缺乏对C代码的统一管理，因此会导致维护的代码数量过多，并且测试激励构造繁琐。另外，以上三种方案中，UP端口直接连接服务器，服务器CPU输入无法对UP端口产生较大的压力，因此对PCIe Switch的UP端口输入压力测试不充分，并且测试无法完全覆盖所有端口。

发明内容

本发明的目的在于提供一种PCIe Switch的端口测试管理方法和装置，在EMU平台上使用虚拟EP的基础上，提出了一种新的测试场景，旨在解决测试激励构造繁琐，以及被测端口的输入压力不充分的问题。

根据本发明的第一方面，提供了一种PCIe Switch的端口测试管理方法，包括：

步骤101：将多个PCIe Switch进行级联连接；

步骤102：将与级联连接的PCIe Switch相关联的多个虚拟EP设备进行统一编号，并将所有C代码进行整合；

步骤103：从所述多个虚拟EP设备中确定触发设备，通过所述触发设备对目标设备执行输入输出业务，以发起对目标端口的测试。

优选地，所述与级联连接的PCIe Switch相关联的多个虚拟EP设备，包括与级联连接的每个PCIe Switch的DP端口相连接的多个虚拟EP设备。

优选地，所述将所有C代码进行整合，进一步包括：

将所述多个虚拟EP设备相关的多份C代码合并为一份。

优选地，所述目标设备是第一虚拟EP设备，其中第一虚拟EP设备和所述触发设备均连接到同一PCIe Switch设备，所述通过触发设备对目标设备执行输入输出业务，以发起对目标端口的测试，进一步包括：

通过所述触发设备发起对连接到所述同一PCIe Switch设备的其他DP端口的输入输出压力测试。