[发明专利]面板检测方法、装置、电子设备及存储介质在审
| 申请号: | 202111561798.3 | 申请日: | 2021-12-16 |
| 公开(公告)号: | CN114359074A | 公开(公告)日: | 2022-04-15 |
| 发明(设计)人: | 朱小明;匡梦良;殷亚男;许超;张鑫 | 申请(专利权)人: | 苏州镁伽科技有限公司 |
| 主分类号: | G06T5/00 | 分类号: | G06T5/00;G06T7/00;G06T7/13;G06T7/66 |
| 代理公司: | 北京睿邦知识产权代理事务所(普通合伙) 11481 | 代理人: | 徐丁峰;张玮 |
| 地址: | 215000 江苏省苏州市中国(江苏)自由贸易试*** | 国省代码: | 江苏;32 |
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| 摘要: | |||
| 搜索关键词: | 面板 检测 方法 装置 电子设备 存储 介质 | ||
1.一种面板检测方法,其特征在于,所述方法包括:
获取待检测面板的图像;
在所述待检测面板的图像中,针对所述待检测面板的玻璃电极和核心电极组成的电极对,执行如下检测步骤以确定所述待检测面板是否合格,其中,所述电极对中的玻璃电极和核心电极接合:
识别所述电极对中的玻璃电极和核心电极;
确定识别出的玻璃电极和核心电极的横向中心位置;
根据确定出的所述玻璃电极和核心电极各自的横向中心位置,确定所述电极对中的玻璃电极和核心电极之间的粒子横向偏移量。
2.如权利要求1所述的方法,其中,
所述确定识别出的玻璃电极和核心电极的横向中心位置,包括:
确定识别出的玻璃电极和核心电极中的一者的纵向中心线上的第一点的横坐标数值,并确定识别出的玻璃电极和核心电极中的另一者的纵向中心线上的第二点的横坐标数值;
所述根据确定出的所述玻璃电极和核心电极各自的横向中心位置,确定所述电极对中的玻璃电极和核心电极之间的粒子横向偏移量,包括:
计算所述第一点的横坐标数值与所述第二点的横坐标数值之间的差值,以作为所述粒子横向偏移量。
3.如权利要求2所述的方法,其中,
所述确定识别出的玻璃电极和核心电极中的一者的纵向中心线上的第一点的横坐标数值,包括:
确定所述一者的左边缘和右边缘;
根据所述一者的左边缘和右边缘,确定所述一者的宽度;
根据所述一者的左边缘或右边缘的位置以及所述一者的宽度,确定所述一者的纵向中心线上的第一点的横坐标数值;并且
所述确定识别出的玻璃电极和核心电极中的另一者的纵向中心线上的第二点的横坐标数值,包括:
确定所述另一者的左边缘和右边缘;
根据所述另一者的左边缘和右边缘,确定所述另一者的宽度;
根据所述另一者的左边缘或右边缘的位置以及所述另一者的宽度,确定识别出的玻璃电极和核心电极中的另一者的纵向中心线上的第二点的横坐标数值。
4.如权利要求3所述的方法,其中,所述第一点和所述第二点中的一个点在对应的电极上不可见,所述第一点和所述第二点中的另一个点在对应的电极上可见;
对于该不可见的点所对应的电极,根据该电极的左边缘或右边缘的位置以及该电极的宽度,确定该电极的纵向中心线上的不可见的点的横坐标数值,包括:
确定该电极的左边缘或右边缘所在直线;
在所确定的直线上确定参考点,所述参考点的纵坐标数值等于可见的点的纵坐标值;
根据所述参考点的横坐标数值和该电极的宽度,确定该电极的纵向中心线上的不可见的点的横坐标数值。
5.如权利要求1至4任一项所述的方法,其中,所述检测步骤遍历所述待检测面板的所有电极对来执行。
6.如权利要求1至4任一项所述的方法,其中,所述获取待检测面板的图像包括:
在相对设置的第一光源和第二光源同时垂直照射所述待检测面板的情况下,对所述待检测面板进行成像,以生成所述待检测面板的图像。
7.如权利要求6所述的方法,其中所述第一光源和/或所述第二光源是发射平行光的点光源。
8.一种面板检测装置,其特征在于,所述装置包括:
获取模块,用于获取待检测面板的图像;
检测模块,用于在所述待检测面板的图像中,针对所述待检测面板的玻璃电极和核心电极组成的电极对,执行如下检测操作以确定所述待检测面板是否合格,其中,所述电极对中的玻璃电极和核心电极接合:
识别所述电极对中的玻璃电极和核心电极,并对应确定识别出的玻璃电极和核心电极的横向中心位置;
根据确定出的所述玻璃电极和核心电极各自的横向中心位置,确定所述电极对中的玻璃电极和核心电极之间的粒子横向偏移量。
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